[发明专利]保偏光纤的轴向应变-双折射系数的测量系统及测量和计算方法

摘要

本发明公开一种保偏光纤的轴向应变‑双折射系数的测量系统及测量和计算方法，所述系统包括：分布式偏振串扰分析系统、输出保偏光纤、待测保偏光纤、输入保偏光纤、第一光纤应力调节架、第二光纤应力调节架、带指针的第一读数显微镜、带指针的第二读数显微镜；分布式偏振串扰分析系统的输出端口与所述输出保偏光纤的第一端连接；所述输入保偏光纤的第二端与所述分布式偏振串扰分析系统的输入端口连接；输出保偏光纤的第二端与所述待测保偏光纤的第一端连接，且在输出保偏光纤与所述待测保偏光纤的连接处引入第一预设串扰峰；所述待测保偏光纤的第二端与所述输入保偏光纤的第一端连接，且在待测保偏光纤与输入保偏光纤的连接处引入第二预设串扰峰。

主权项

1.一种保偏光纤的轴向应变‑双折射系数的测量系统，其特征在于，包括：分布式偏振串扰分析系统、输出保偏光纤、待测保偏光纤、输入保偏光纤、第一光纤应力调节架、第二光纤应力调节架、带指针的第一读数显微镜、带指针的第二读数显微镜；所述分布式偏振串扰分析系统的输出端口与所述输出保偏光纤的第一端连接；所述输入保偏光纤的第二端与所述分布式偏振串扰分析系统的输入端口连接；所述待测保偏光纤与所述输出保偏光纤的连接处设置有第一应变量测量监测点；所述待测保偏光纤与所述输入保偏光纤的连接处设置有第二应变量测量监测点；所述待测保偏光纤与所述输出保偏光纤的连接处设置有第一应变量测量监测点具体为：所述待测保偏光纤与所述输出保偏光纤使用保偏光纤熔接机进行熔接连接后，使用光纤涂覆机进行重涂覆，生成的新涂覆层的左侧边界作为第一应变量测量监测点；所述待测保偏光纤与所述输入保偏光纤的连接处设置有第二应变量测量监测点具体为：所述待测保偏光纤与所述输入保偏光纤使用保偏光纤熔接机进行熔接连接后，使用光纤涂覆机进行重涂覆，生成的新涂覆层的左侧边界作为第二应变量测量监测点；所述输出保偏光纤的第二端与所述待测保偏光纤的第一端连接，且在所述输出保偏光纤与所述待测保偏光纤的连接处引入第一预设串扰峰；具体为：所述输出保偏光纤通过与所述待测保偏光纤熔接连接后引入第一预设串扰峰；所述待测保偏光纤的第二端与所述输入保偏光纤的第一端连接，且在所述待测保偏光纤与所述输入保偏光纤的连接处引入第二预设串扰峰；具体为：所述待测保偏光纤通过与所述输入保偏光纤熔接连接后引入第二预设串扰峰；所述第一光纤应力调节架和所述第二光纤应力调节架分别设置在所述待测保偏光纤的两侧，用于对所述待测保偏光纤进行轴向拉伸；所述带指针的第一读数显微镜的指针指向所述第一应变量测量监测点，用于读取所述第一应变量测量监测点的轴向位移变化量；所述带指针的第二读数显微镜的指针指向所述第二应变量测量监测点，用于读取所述第二应变量测量监测点的轴向位移变化量；所述分布式偏振串扰分析系统，用于测量得到所述待测保偏光纤上的第一预设串扰峰和第二预设串扰峰之间的初始延迟距离差ΔZ0；所述分布式偏振串扰分析系统还用于，测量所述第一预设串扰峰和所述第二预设串扰峰之间的延迟距离差ΔZ。