[发明专利]一种PLC智能测控系统在审
申请号: | 201610939748.7 | 申请日: | 2016-10-25 |
公开(公告)号: | CN107976963A | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
发明(设计)人: | 刘向荣 | 申请(专利权)人: | 湘潭智联技术转移促进有限责任公司 |
主分类号: | G05B19/418 | 分类号: | G05B19/418 |
代理公司: | 上海精晟知识产权代理有限公司31253 | 代理人: | 张超宇,冯子玲 |
地址: | 410100 湖南省湘潭*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种PLC智能测控系统,包括有待加工产品设计要求的产品信息模块、数据采集模块、保护系统模块、通信模块、参考产品数据库模块、数据处理控制模块和产品测试模块,所述参考产品数据库模块,用于管理储存各种优质合格机械基础件尺寸、机械性能和力学性能参数,以及制造过程中所用的工艺参数。与现有技术相比,本发明可以对生产线成形设备的工艺参数和状态信息同时在线监测,并结合历史优质产品合格数据库对数据进行智能优化处理,然后根据优化后的参数对它们进行智能控制,从而提高制造效率和二次制造精度以及满足客户市场需求。 | ||
搜索关键词: | 一种 plc 智能 测控 系统 | ||
【主权项】:
一种PLC智能测控系统,其特征在于:所述PLC智能测控系统包括有待加工产品设计要求的产品信息模块、数据采集模块、保护系统模块、通信模块、参考产品数据库模块、数据处理控制模块和产品测试模块,所述有待加工产品设计要求的产品信息模块,用于管理储存有待加工产品设计要求的机械基础件尺寸、机械性能和力学性能参数,以及制造过程中所用的工艺参数;所述数据采集模块,用于采集生产加工过程中采集的机械基础件尺寸、机械性能和力学性能参数,以及制造过程中所用的工艺参数;所述保护系统模块,用于保护PLC智能测控系统的信号通道畅通及电路通道免于干扰;所述通信模块,用于将所述数据采集模块采集的信息以及参考产品数据库模块的数据信息发送至数据处理控制模块;所述参考产品数据库模块,用于管理储存各种优质合格机械基础件尺寸、机械性能和力学性能参数,以及制造过程中所用的工艺参数;所述产品测试模块,用于分析测量预制造的半成品。
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