[发明专利]一种基于带电粒子辐照产生级联及点缺陷的方法有效
| 申请号： | 201610911410.0 | 申请日： | 2016-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN106483061B | 公开（公告）日： | 2019-04-16 |
| 发明（设计）人： | 李兴冀;杨剑群;刘超铭;马国亮 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 岳泉清 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： |
一种基于带电粒子辐照产生级联及点缺陷的方法，涉及空间环境效应领域，为了满足对位移损伤效应的研究需求。该方法为：选取带电粒子；计算带电粒子所产生的单位时间位移损伤吸收剂量D；根据 |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 带电 粒子 辐照 产生 级联 点缺陷 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于带电粒子辐照产生级联及点缺陷的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：选取带电粒子；计算带电粒子所产生的单位时间位移损伤吸收剂量D；根据![]()
计算D'(E)，D'(E)为一个能量为E的带电粒子所产生的位移损伤吸收剂量，![]()
为注量率；选取D'(E)大于位移缺陷产生阈值的有效带电粒子；在有效带电粒子中选取D小于点缺陷阈值的带电粒子作为辐照源，用于产生点缺陷；在有效带电粒子中选取D大于级联缺陷阈值的带电粒子作为辐照源，用于产生点缺陷和级联缺陷。
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