[发明专利]测量探头和测量探头系统有效
| 申请号： | 201610866675.3 | 申请日： | 2016-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN107044818B | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 日高和彦;滨伸行;中山树;松宫贞行 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01B5/20 | 分类号： | G01B5/20;G01B5/012 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇;张会华 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测量探头和测量探头系统。一种测量探头(124)，其用于对设为能够相对于其相对旋转的滚珠丝杠(102)的螺纹槽(102A)进行测量，其包括：测头(126)，其具有能够与螺纹槽(102A)接触的顶端部(126A)；径向移位机构(127)，其将测头(126)支承成能够沿着朝向滚珠丝杠(102)的轴心(O)的(X)方向移位；轴向移位机构(131)，其将测头(126)支承能够沿着轴心(O)的轴向(Z方向)移位；以及传感器(135、136)，其用于对测头(126)的由径向移位机构(127)和轴向移位机构(131)产生的移位进行检测。由此，能够高精度地测量设为能够相对于其相对旋转的工件的侧面的预定的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 探头 系统 | ||
【主权项】：
一种测量探头，其能够对设为能够相对于其相对旋转的工件的侧面形状进行测量，其特征在于，该测量探头包括：测头，其具有能够与所述工件的侧面接触的顶端部；径向移位机构，其将该测头支承成能够沿着朝向该工件的轴心的方向移位；轴向移位机构，其将该测头支承成能够沿着该轴心的轴向移位；以及传感器，其用于对该测头的由该径向移位机构和该轴向移位机构产生的移位进行检测。
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