[发明专利]高频行波反射式料位开关

摘要

本申请公开了一种高频行波反射式料位开关，包括电气变送单元与探杆总成，在电气变送单元内安装有电气测量回路中的激励信号源、射频同轴环行器和反射系数检出电路，探杆总成包含有支撑探杆、探头绝缘体、测量探头、探杆内芯、探杆内芯绝缘体和安装法兰；射频同轴环行器的信号单向传输特性将激励信号U1与反射波U2进行分离；测量探头与探杆内芯连接成一整体，通过探头绝缘体与探杆内芯绝缘体和支撑探杆绝缘，探杆总成为同轴结构。本发明利用测量探杆总成的反射系数作为判椐，避开了因电路时漂与温漂带来的不利影响，而且动作判椐仅与探杆总成的结构尺寸及探头总成周围被测物料分布状态相关，排斥了电路元器件误差的影响，因此稳定性极高。

主权项

一种高频行波反射式料位开关，其特征在于：所述高频行波反射式料位开关包括电气变送单元(1)与探杆总成(B)，在所述电气变送单元(1)内安装有电气测量回路中的激励信号源(11)、射频同轴环行器(12)和反射系数检出电路(13)，所述探杆总成(B)包含有支撑探杆(2)、探头绝缘体(3)、测量探头(4)、探杆内芯(5)、探杆内芯绝缘体(6)和安装法兰(7)；所述激励信号源(11)产生射频激励信号U1，该信号通过所述射频同轴环行器(12)的相应端口施加在所述探杆内芯(5)上；所述支撑探杆(2)、探头绝缘体(3)、测量探头(4)、探杆内芯(5)、探杆内芯绝缘体(6)共同组成同轴的测量结构；所述射频同轴环行器(12)能将所述同轴测量结构形成的反射波U2进行定向输出；所述反射系数检出电路(13)能对激励信号U1与反射波U2进行运算后可得到探杆总成(B)所具有的反射系数；所述射频同轴环行器(12)的信号单向传输特性能将激励信号U1与反射波U2进行有效分离；所述测量探头(4)与所述探杆内芯(5)连接成一整体，通过所述探头绝缘体(3)与所述探杆内芯绝缘体(6)和所述支撑探杆(2)绝缘。