[发明专利]一种天线罩的厚度设计方法有效

专利信息
申请号: 201610824698.8 申请日: 2016-09-14
公开(公告)号: CN106469850B 公开(公告)日: 2019-03-15
发明(设计)人: 许万业;李鹏;段宝岩;张逸群;宋立伟;胡乃岗 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01Q1/42 分类号: H01Q1/42;G06F17/50
代理公司: 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 代理人: 张恒阳
地址: 710071 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种天线罩的厚度设计方法,包括如下步骤:(1)将天线罩的厚度按照罩体的高度方向进行离散化;(2)确定厚度值的取值范围,并对离散点处的厚度赋初值;(3)根据离散点处的厚度值,计算其统计值,(4)计算天线的远场,并从中提取增益G1和主波束位置B1这些电性能指标;(5)用传输线理论计算罩体的透射系数,(6)计算带罩天线系统的远场F′(θ,φ),绘制远场方向图,(7)建立优化设计模型;(8)判断优化后得到的天线罩的电性能指标和厚度分布是否满足预设要求。它改善了天线罩的电性能指标。
搜索关键词: 一种 天线罩 厚度 设计 方法
【主权项】:
1.一种天线罩的厚度设计方法,其特征是:包括如下步骤:(1)将天线罩的厚度按照罩体的高度方向进行离散化;沿罩体的高度,以天线罩的底面中心为原点、底面为xy平面建立一个坐标系O‑xyz,罩体高度沿z方向,沿该方向均匀选取10个离散点,其坐标记为z1,z2,…,z10;(2)根据天线罩结构性能和电性能的要求,确定厚度值的取值范围,并对离散点处的厚度赋初值;(3)根据离散点处的厚度值,计算其统计值,包括方差、最大斜率及其斜率的方差,根据离散点处的厚度值d1,d2,…,d10,计算这些数的方差vd,进一步根据其坐标z1,z2,…,z10,计算相邻离散点的斜率值:计算这些斜率值的最大值mds及其方差vds;(4)计算天线的远场,并从中提取增益G1和主波束位置B1这些电性能指标;(5)根据天线罩的结构参数和材料参数,用传输线理论计算罩体的透射系数并根据已知的天线口径场E(x,y),计算透过天线罩后的口径场:(6)根据透过天线罩后的口径场E′(x,y),计算带罩天线系统的远场F′(θ,φ),绘制远场方向图,并从该远场方向图中提取增益G2和主波束位置B2这些电性能指标,进而确定天线罩引起的增益损失TL和瞄准误差BSE;(7)以步骤(1)中的离散点处的厚度值为设计变量,以步骤(3)中厚度的方差、最大斜率、斜率的方差及步骤(6)中的电性能指标为设计目标,建立优化设计模型,利用粒子群优化算法求解此模型,得到天线罩的厚度分布;(8)判断优化后得到的天线罩的电性能指标和厚度分布是否满足预设要求,如果满足,则天线罩结构设计方案合格,否则,修改天线罩的离散化方法及优化算法参数,并重复步骤(1)至步骤(8),直至得到电性能指标和厚度分布满足预设要求的设计方案。
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