[发明专利]一种原位自生长的超低反射率材料及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201610767489.4 申请日: 2016-08-30
公开(公告)号: CN106382757A 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 冯守华;王兴利;吴小峰;黄科科;袁龙;付蓉 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: F24J2/48 分类号: F24J2/48;G02B5/08;C01G3/02;B82Y30/00;B82Y40/00
代理公司: 长春吉大专利代理有限责任公司22201 代理人: 刘世纯,王恩远
地址: 130012 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 一种铜金属基原位自生长的CuO纳米线阵列超低反射率材料及其制备方法,属于超低反射率材料制备技术领域。首先对Cu金属基片(基片厚度0.2~20mm)的上、下表面用酒精棉擦拭8~20次使表面光滑和洁净;再将上述Cu金属基片在空气气氛中,以0.01~5℃/分钟的升温速度加热至410~490℃,反应2h~7d,然后以0.1~5℃/分钟的降温速度降至室温,从而得到Cu金属基原位自生长的CuO纳米线阵列超低反射率材料。原料铜基底不需抛光,前处理方便。制备过程简单,一步合成,无污染,原料简单,成本低,阵列参数可调,易获得超低反射率。该材料能有效提高太阳能集热管的吸光效率,增强光学仪器的精密度。对能源与光学领域的发展有着重要意义。
搜索关键词: 一种 原位 生长 反射率 材料 及其 制备 方法
【主权项】:
一种原位自生长的超低反射率材料,其特征在于:从底部往外分别是紧贴于Cu金属基片的Cu2O层、CuO层和CuO纳米线阵列结构层;纳米线阵列结构层的厚度为5.2μm~40.3μm,直径分布在45~247nm,纳米线几乎垂直于Cu金属基片。
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