[发明专利]测试图形翻译方法及芯核测试壳装置

摘要

本发明实施例提供测试图形翻译方法及芯核测试壳装置，上述方法包括：由WSI向测试壳扫描链中、依次串行装载SI测试激励数据、无关数据和PI测试激励数据，从而实现将SI测试激励数据和PI测试激励数据转换为测试壳扫描链装载测试激励数据；令PI测试激励数据通过输入端口链施加到IP核的输入端口；捕获IP核产生的PO测试响应数据至输出端口链；捕获IP核产生的SO测试响应数据至内部扫描链中；依次由WSO串行卸载内部扫描链中的SO测试响应数据和输出端口链中的PO测试响应数据，从而将PO测试响应数据和SO测试响应数据转换为测试壳扫描链卸载测试响应数据。

主权项

一种测试图形翻译方法，所述测试图形包括IP核测试图形数据和测试壳测试图形数据，其特征在于:所述IP核测试图形数据包括扫描输入SI测试激励数据、扫描输出SO测试响应数据、初级输入PI测试激励数据和初级输出PO测试响应数据；所述测试壳测试图形数据包括测试壳扫描链装载测试激励数据和测试壳扫描链卸载测试响应数据；所述测试图形翻译方法基于测试壳扫描链，所述测试壳扫描链包括串行连接的输入端口链和输出端口链，所述输出端口链的输出端连接IP核内部扫描链的扫描输入端；所述输入端口链中的WBR单元与所述IP核的初级输入端口一一对应相连；所述输出端口链中的WBR单元与所述IP核的初级输出端口一一对应相连；所述方法包括：由测试壳串行输入WSI向测试壳扫描链中、依次串行装载所述SI测试激励数据、无关数据和所述PI测试激励数据；其中，当所述SI测试激励数据全部进入所述IP核的内部扫描链时，所述无关数据全部进入所述输出端口链，所述PI测试激励数据全部进入所述输入端口链，从而实现将SI测试激励数据和PI测试激励数据转换为测试壳扫描链装载测试激励数据；令所述PI测试激励数据通过所述输入端口链中的WBR单元施加到所述IP核的输入端口；捕获所述IP核产生的PO测试响应数据至所述输出端口链的WBR单元中；捕获所述IP核产生的SO测试响应数据至所述内部扫描链中；依次由测试壳串行输出WSO串行卸载所述内部扫描链中的SO测试响应数据和所述输出端口链中的所述PO测试响应数据，从而将所述输出端口链中的所述PO测试响应数据和所述内部扫描链中的SO测试响应数据转换为测试壳扫描链卸载测试响应数据。