[发明专利]轴线相交度测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201610625356.3 申请日: 2016-08-02
公开(公告)号: CN106289085B 公开(公告)日: 2019-04-02
发明(设计)人: 赵怀学;周艳;田留德;赵建科;薛勋;潘亮;胡丹丹;段亚轩;张洁;曹昆;李坤;赛建刚;昌明 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01B11/14 分类号: G01B11/14;G01C1/02
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 汪海艳
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供一种轴线相交度的测试方法,首先调整光电自准直仪,对准平面双面反射镜;调整自准直经纬仪瞄准平面双面反射镜十字丝像中心,记录自准直经纬仪读数;将转台水平轴按45°间隔旋转,总共旋转360°,记录自准直经纬仪读数;旋转转台,光电自准直仪监视转台垂直轴旋转180°,调整自准直经纬仪瞄准平面双面反射镜十字丝像中心,记录自准直经纬仪读数再将转台水平轴按45°间隔旋转,总共旋转360°,记录自准直经纬仪读数,根据记录的数据计算轴线相交度,本发明测试方法采用非接触式两轴相交度测试方法,测试精度高,且测量方法不受标准芯棒尺寸的限制。
搜索关键词: 轴线 相交 测试 装置 方法
【主权项】:
1.一种利用轴线相交度测试装置测试轴线相交度的方法,所述轴线相交度测试装置包括自准直经纬仪,光电自准直仪和反射镜;所述光电自准直仪和自准直经纬仪架设在转台水平轴的两端;所述反射镜设置在转台水平轴上;所述反射镜位于在转台垂直轴通过一次正交平移和转台水平轴的相交处;所述反射镜为平面双面反射镜;所述反射镜中心带十字丝像;其特征在于:包括以下步骤:步骤一:调整平面双面反射镜,使得平面双面反射镜的镜面与转台水平轴垂直;调整平面双面反射镜十字丝像位置,使得十字丝像在转台水平轴旋转过程中,前后两次自准直经纬仪的读数差在设定的差值范围内时,视为读数相等即自准直经纬仪的读数在转台水平轴旋转时不变;步骤二:调整光电自准直仪,对准平面双面反射镜;调整自准直经纬仪瞄准平面双面反射镜十字丝像中心,记录自准直经纬仪读数(A1,E1);步骤三:将转台水平轴按45°间隔旋转,总共旋转360°,平面双面反射镜跟随转台水平轴旋转,每旋转一次转台水平轴,调整一次自准直经纬仪,使得自准直经纬仪瞄准平面双面反射镜十字丝像中心,记录自准直经纬仪读数分别为:(A2,E2),…(A8,E8);步骤四:旋转转台,光电自准直仪监视转台垂直轴旋转180°,转台水平轴及平面双面反射镜跟随转台垂直轴转动180°,调整自准直经纬仪瞄准平面双面反射镜十字丝像中心,记录自准直经纬仪读数(A1′,E1′),再将转台水平轴按45°间隔旋转,总共旋转360°,每旋转一次转台水平轴,调整一次自准直经纬仪,使得自准直经纬仪瞄准平面双面反射镜十字丝像中心,记录自准直经纬仪读数分别为:(A2′,E2′),…(A8′,E8′);步骤五:通过以下公式计算轴线相交度;θmax=max(θ1、θ2、θ3、θ4)     (5)ξ=L·tan(θmax/2)             (6)式中,L—自准直经纬仪转轴与平面双面反射镜十字丝的距离;ξ—转台水平轴和转台垂直轴的轴线相交度;θ1—在A1和A5的相对位置下被测轴线相交度相对于经纬仪的夹角;θ2—在A2和A6的相对位置下被测轴线相交度相对于经纬仪的夹角;θ3—在A3和A7的相对位置下被测轴线相交度相对于经纬仪的夹角;θ4—在A4和A8的相对位置下被测轴线相交度相对于经纬仪的夹角。
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