[发明专利]一种阵列推扫式激光雷达测距非均匀性校正的方法有效

专利信息
申请号: 201610614734.8 申请日: 2016-07-29
公开(公告)号: CN106291512B 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: 李传荣;朱晓玲;周梅;黎荆梅;张慧静;马莲;陈玖英;吴昊昊;李伟 申请(专利权)人: 中国科学院光电研究院
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497;G01S17/08
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种阵列推扫式激光雷达测距非均匀性校正的方法,采用N个激光通道的阵列推扫式激光雷达探测靶板,改变所述阵列推扫式激光雷达与靶板相对位置,对靶板进行M次探测,获取各激光通道对应的激光雷达数据和全站仪数据,并通过坐标转换等操作,构建非均匀性校正模型,以任一激光通道的实际测距值为基准校正其它各激光通道的实际测距值。
搜索关键词: 一种 阵列 推扫式 激光雷达 测距 均匀 校正 方法
【主权项】:
1.一种阵列推扫式激光雷达测距非均匀性校正的方法,其特征在于,包括:步骤A:采用N个激光通道的阵列推扫式激光雷达探测靶板,改变所述阵列推扫式激光雷达与靶板相对位置,对靶板进行M次探测,每次探测中,每个激光通道在靶板上对应于一靶标点,针对所述N个激光通道中的第i个激光通道,获取该激光通道对应的激光雷达数据和全站仪数据,其中M,N为正整数,M≥2,N≥2,i=1,2,3,……,N,所述激光雷达数据包括第i个激光通道对其对应的第i个靶标点的实际测距值di',所述全站仪数据包括所述第i个靶标点的坐标;步骤B:以所述阵列推扫式激光雷达的激光发射参考点为原点的激光扫描坐标系与以全站仪位置为原点的局部控制坐标系之间的坐标转换参数解算;步骤C:在每次探测中,通过步骤B所得的坐标转换参数,拟合出N个靶标点在激光扫描坐标系下的靶标点直线方程;步骤D:通过所述靶标点直线方程与所述阵列推扫式激光雷达的每一激光通道的激光分束角θi,计算出每个激光通道的理论测距值di;步骤E:在每次探测中,针对每一激光通道,依据激光测距误差修正模型对该激光通道对应的激光通道的理论测距值di和实际测距值di'建立测距修正误差方程,正对同一激光通道,M次探测可得到M个测距修正误差方程,构建测距修正误差方程组,解算每一激光通道的测距误差修正参数;步骤F:建立非均匀性校正模型,基于步骤E所得到的每一激光通道的测距误差修正参数以任一激光通道的实际测距值为基准校正其它各激光通道的实际测距值。
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