[发明专利]一种测试系统的校准方法及系统

摘要

本发明所提供了一种测试系统的校准方法及系统，所述方法控制信号源将源信号输入到所述测试系统的系统输入端，并通过所述测试系统的被测器件输入端将所述源信号输入到功率放大装置中，所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成放大信号；控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第一输出信号，根据所述源信号、所述第一输出信号和所述功率放大装置的标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据，并根据所述第一插入损耗数据对所述测试系统进行大功率校准。因此本发明实施例可以在大功率下对测试系统进行校准，进而可以得到被测器件大功率状态下的测量数据。

主权项

1.一种测试系统的校准方法，用于对测试系统进行校准，其特征在于，包括：控制信号源将源信号输入到所述测试系统的系统输入端，并通过所述测试系统的被测器件输入端将所述源信号输入到功率放大装置中；所述功率放大装置用于对所述源信号进行放大处理后生成放大信号；将所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成的所述放大信号输入到所述测试系统的被测器件输出端，并控制测量仪器在所述测试系统的系统输出端读取第一输出信号；根据所述源信号、所述第一输出信号和所述功率放大装置的标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据，并根据所述第一插入损耗数据对所述测试系统进行大功率校准；其中，所述根据所述源信号、所述第一输出信号和所述功率放大装置的标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据，包括：控制所述信号源将所述源信号输入到所述功率放大装置中，将所述功率放大装置对所述源信号进行放大处理后生成的所述放大信号输入到衰减器中，并控制所述测量仪器读取所述衰减器输出的第一衰减信号；根据线路插入损耗数据、所述衰减器的衰减值数据、所述源信号和所述第一衰减信号，计算所述功率放大装置的所述标称值数据；根据所述第一输出信号和所述标称值数据，计算所述测试系统的第一插入损耗数据。