[发明专利]检测光测距装置及测距方法有效

专利信息
申请号: 201610579136.1 申请日: 2016-07-21
公开(公告)号: CN106291507B 公开(公告)日: 2018-10-30
发明(设计)人: 陈远丹;韩亚军;沙闯;吴克芳;冯玲玲;张民 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
主分类号: G01S7/481 分类号: G01S7/481;G01S17/08
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 汪源;陈源
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种检测光测距装置及测距方法,属于激光测距技术领域,其可解决现有的测距装置测量精度低的问题。本发明的检测光测距装置,包括:第一光学组件和第二光学组件;第一光学组件用于将检测光分成第一子检测光和第二子检测光,并将第二子检测光射向所述第二光学组件;所述第二光学组件用于接收所述第二子检测光,并使所述第二子检测光被被测物反射后发生至少一次反射后射出。
搜索关键词: 检测 测距 装置 方法
【主权项】:
1.一种检测光测距装置,其特征在于,包括:第一光学组件和第二光学组件;所述第一光学组件用于将检测光分成第一子检测光和第二子检测光,并将所述第二子检测光射向所述第二光学组件;所述第二光学组件用于接收所述第二子检测光,并使所述第二子检测光被被测物反射后发生至少一次反射后射出;所述检测光测距装置还包括检测光发射电路和计时电路;所述检测光发射电路用于向所述第一光学组件发射所述检测光;所述计时电路用于接收所述第一子检测光并开始计时,以得出第一时刻;接收所述第二子检测光并结束计时,以得出第二时刻;所述第二光学组件包括:内支撑体、外支撑体和第一光学元件,所述内支撑体位于所述外支撑体内,所述第一光学组件、检测光发射电路、所述计时电路和第一光学元件位于所述内支撑体中,所述内支撑体上设置有第一开孔,所述外支撑体上设置有第二开孔和第三开孔;所述第二开孔用于使通过所述第一开孔的第二子检测光射向所述被测物;所述第三开孔用于使经所述被测物反射的所述第二子检测光通过,以使所述第二子检测光在所述外支撑体的内壁和所述内支撑体的外壁之间进行至少一次反射;所述第一开孔还用于使经过反射的所述第二子检测光通过并射向所述第一光学元件;所述第一光学元件用于使经所述第一开孔射入的第二子检测光射至所述计时电路。
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