[发明专利]测量珠光体片层真实间距的方法有效
| 申请号： | 201610566701.0 | 申请日： | 2016-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN106052543B | 公开（公告）日： | 2018-08-28 |
| 发明（设计）人： | 鲁修宇;蒋跃东;仇东丽;任安超;夏艳花;帅习元;周勇;黄静 | 申请（专利权）人： | 武汉钢铁有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/14 | 分类号： | G01B7/14 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 王和平;张继巍 |
| 地址： | 430083 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量珠光体片层真实间距的方法，将待测试样在扫描电镜下进行扫描，在横截面半径中垂线1/4～1/2区域处沿垂直于珠光体长度方向测量N层珠光体片层间距和该珠光体片层对应的渗碳体厚度；选取N组中渗碳体厚度最小测量值作为参照值，将N组中每组渗碳体厚度测量值均与参照值相除，得到N组中每组珠光体片层间距测量值相对应的放大倍数；将N组中每组的珠光体片层间距测量值乘以该组珠光体片层间距测量值相对应的放大倍数；将N组中N个实际的珠光体片层间距测量值求平均值得到真实的珠光体片层间距测量值。本发明测量珠光体片层真实间距的方法简单，通过准确测量珠光体片层间距，可以准确的确定材料的组织类型。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 珠光体 真实 间距 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量珠光体片层真实间距的方法，其特征在于：所述测量方法包括如下步骤：1)将待测试样在扫描电镜下进行扫描，在横截面半径中垂线1/4～1/2区域处沿垂直于珠光体长度方向测量N层珠光体片层间距和该珠光体片层对应的渗碳体厚度，得到N组珠光体片层间距测量值和该珠光体片层对应的渗碳体厚度测量值；2)选取N组中渗碳体厚度最小测量值作为参照值，将N组中每组渗碳体厚度测量值均与参照值相除，得到N组中每组珠光体片层间距测量值相对应的放大倍数；3)将N组中每组的珠光体片层间距测量值除以该组珠光体片层间距测量值相对应的放大倍数，得到实际的珠光体片层间距测量值；4)将N组中N个实际的珠光体片层间距测量值求平均值得到真实的珠光体片层间距测量值。
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