[发明专利]新型串并联质谱装置系统及其参数调节方法和使用方法

摘要

本发明提出了一种新型串并联质谱装置系统，包括一套四极滤质器系统、特殊的四极杆/线性离子阱质量分析器系统、离子导引系统、四极偏转器、双曲四极杆质量分析器及离子计数器系统、低气压线性离子阱质谱分析器及电子倍增器系统、飞行时间质谱系统、多路气体流量控制系统、真空规及多段差动真空系统等质谱必要基本子系统。此外，本发明还提出了一种操作上述系统实现对复杂基体中超痕量物质进行三重四极杆模式的定量分析、四极滤质结合高/低气压离子阱模式的定性分析、四极滤质结合飞行时间质谱模式的快速/高质量精度分析的方法，以及三种不同质量分析器有效组合实现最佳离子光学参数调节的方法和对超痕量物质高精度定性、高精确定量分析的方法。

主权项

一种新型串并联质谱装置，其特征在于，包括：离子源，设置在标准大气压内，产生离子束；多级梯度真空系统，包括多个依次通过通孔连通的真空区间，在正对离子源的位置也开有通孔；离子导入管路，设置在初级真空区间内，正对各真空区间连接的通孔，用以传递离子源产生的离子束；离子导引管路，设置在初级真空区间以后的各级真空区间内，正对各真空区间连接的通孔，与离子导入管路连通，用以传递离子源产生的离子束；四极滤质器，位于多级梯度真空系统后方，在多级梯度真空系统的对应位置开有通孔，由离子导引管路传递的离子束进入到四极滤质器内；四极杆/线性离子阱质量分析器，包括滤质四极杆和设置在滤质四极杆前方的前端盖和后方的后端盖，和四极滤质器设置在相同的真空区间内，位于四极滤质器的后方；缓冲气导入系统，向四极杆/线性离子阱质量分析器内通入缓冲气，与四极杆/线性离子阱质量分析器的前端盖或后端盖通过管路连通；碰撞气导入系统，向四极杆/线性离子阱质量分析器内通入碰撞气，与四极杆/线性离子阱质量分析器的前端盖或后端盖通过管路连通；四极偏转器，包括入口、出口、第一偏转口和第二偏转口，所述入口和出口之间连线与第一偏转口和第二偏转口之间的连线成十字交叉，设置在四极杆/线性离子阱质量分析器的后方，四极杆/线性离子阱质量分析器的后端盖孔与四极偏转器的入口通过离子导引管路连通，位于四极杆/线性离子阱质量分析器所在真空区间的后一级真空区间内；双曲面四极杆质量分析器系统，与四极偏转器的第一偏转口通过离子管道连通，包括用于定量分析模式的双曲面四极杆质量分析器，双曲四极杆质量分析器的前端装配有 预四极杆，后端均装配有整形四极杆，在整形四极杆后方设置检测器，所述整形四极杆后方设置的检测器为离子计数器系统与电子倍增器双模式选用系统；低气压线性离子阱质量分析器系统，与四极偏转器的第二偏转口通过离子管道连通，包括用于定性分析模式的三段双曲面线性离子阱，在离子阱两侧设置有检测器，所述离子阱两侧设置的检测器为狭缝两端双电子倍增器；垂直反射飞行时间质谱系统，与四极偏转器的出口通过离子导引管路连通，在离子导引管路出口设置脉冲高压发生器，在脉冲高压发生器的上方设置飞行时间管路，在飞行时间管路的开口处设置MCP检测器，在飞行时间管路的封闭端设置用于反射离子的反射装置。