[发明专利]一种包含MRAM的芯片及其测试方法与维护方法在审
| 申请号： | 201610532012.8 | 申请日： | 2016-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN107591177A | 公开（公告）日： | 2018-01-16 |
| 发明（设计）人： | 戴瑾 | 申请（专利权）人： | 上海磁宇信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C11/16 | 分类号： | G11C11/16;G11C29/04 |
| 代理公司： | 上海容慧专利代理事务所(普通合伙)31287 | 代理人： | 于晓菁 |
| 地址： | 201800 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种包含MRAM的芯片，MRAM中包含存储单元或备用存储单元，MRAM设置有状态寄存器，状态寄存器用于被写入设定的MRAM维护状态字时MRAM允许在内部处理器或外部处理器上运行的软件操作备用存储单元。本发明还提供一种包含MRAM的芯片的测试方法与维护方法。本发明提供的包含MRAM的芯片及其测试方法与维护方法，通过在内部处理器或外部处理器运行的软件进行测试或维护，MRAM内不再需要设置自测试系统，从而降低了MRAM的成本；通过运行优先级的设置，能更容易地减小MRAM维护对系统运行的干扰；采用纯软件的测试与维护比硬件的维护更具灵活性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 包含 mram 芯片 及其 测试 方法 维护 | ||
【主权项】：
一种包含MRAM的芯片，MRAM中包含存储单元或备用存储单元，其特征在于，所述MRAM设置有状态寄存器，所述状态寄存器用于被写入设定的MRAM维护状态字时所述MRAM允许在内部处理器或外部处理器上运行的软件操作备用存储单元。
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