[发明专利]阻抗计算模型的建立方法、阻抗匹配方法及其装置在审

专利信息
申请号: 201610515210.3 申请日: 2016-06-30
公开(公告)号: CN106126848A 公开(公告)日: 2016-11-16
发明(设计)人: 刘文敏;王红飞;陈蓓 申请(专利权)人: 广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;广州市兴森电子有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 代理人: 赵赛;马簪
地址: 510663 广东省广州市广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了阻抗计算模型的建立方法、阻抗匹配方法及其装置,阻抗匹配方法包括如下步骤:A1、获取若干个差分过孔的阻抗实测值;A2、通过双金属导线阻抗公式获取若干个差分过孔的双金属导线阻抗值A3、获取若干个阻抗实测值和若干个双金属导线阻抗值的之间的线性关系,得到差分过孔阻抗公式,所述差分过孔阻抗公式为修正的双金属导线阻抗公式的,通过差分过孔阻抗公式求得差分过孔的预测阻抗值,以使根据预测阻抗值得到更精准的差分过孔。本发明的优点在于通过差分过孔阻抗计算公式可以预测到一个更精准的差分过孔阻抗,以使制作得到的差分过孔阻抗与客户给定的线路阻抗匹配更精准。
搜索关键词: 阻抗 计算 模型 建立 方法 阻抗匹配 及其 装置
【主权项】:
阻抗计算模型的建立方法,其特征在于,包括如下步骤:A1、检测若干个差分过孔的阻抗,从而得到若干个差分过孔的阻抗实测值;A2、根据双金属导线阻抗公式计算若干个差分过孔的双金属导线阻抗值,所述双金属导线阻抗公式为:其中Z0为双金属导线阻抗,εr为相对介电常数,d为差分过孔中心间距,D为差分过孔直径;A3、根据若干个阻抗实测值和若干个双金属导线阻抗值,得到阻抗实测值和双金属导线阻抗值之间的关系,根据所述关系对双金属导线阻抗公式进行修正,从而得到差分过孔阻抗公式,所述差分过孔阻抗公式用于计算差分过孔的预测阻抗值,从而根据预测阻抗值对差分过孔进行相应的补偿。
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