[发明专利]N沟肖特基栅碳化硅静电感应晶闸管及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201610497794.6 申请日: 2016-06-28
公开(公告)号: CN106024877A 公开(公告)日: 2016-10-12
发明(设计)人: 张林;张赞;高恬溪;朱玮 申请(专利权)人: 长安大学
主分类号: H01L29/74 分类号: H01L29/74;H01L21/332;H01L29/47
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司61200 代理人: 徐文权
地址: 710064 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种N沟肖特基栅碳化硅静电感应晶闸管及其制造方法,目的在于,降低器件开态电阻、提升功率特性,结构所采用的技术方案为:包括自下而上依次设置的P型欧姆接触电极、P型SiC衬底、N型SiC缓冲层、N型SiC漂移层和N型SiC电流增强层,所述N型SiC电流增强层上刻蚀形成若干个台阶,相邻台阶之间设有沟槽,所述台阶顶部设置有N型SiC欧姆接触层,N型SiC欧姆接触层的上部设置有N型欧姆接触电极,N型欧姆接触电极的形状与N型SiC欧姆接触层相同,所述沟槽内设置有肖特基电极,肖特基电极与台阶侧面和沟槽底部相接触,所述P型欧姆接触电极包括依次沉积的Ni层和Pt层,所述N型欧姆接触电极包括依次沉积的Ni层和Pt层,所述肖特基电极包括依次沉积的Ni层、Cr层和Au层,或者Ti层、Cr层和Au层,或者Pt层、Cr层和Au层。
搜索关键词: 沟肖特基栅 碳化硅 静电感应 晶闸管 及其 制造 方法
【主权项】:
一种N沟肖特基栅碳化硅静电感应晶闸管,其特征在于,包括自下而上依次设置的P型欧姆接触电极(7)、P型SiC衬底(1)、N型SiC缓冲层(2)、N型SiC漂移层(3)和N型SiC电流增强层(4),所述N型SiC电流增强层(4)上刻蚀形成若干个台阶,相邻台阶之间设有沟槽,所述台阶顶部设置有N型SiC欧姆接触层(5),N型SiC欧姆接触层(5)的上部设置有N型欧姆接触电极(6),N型欧姆接触电极(6)的形状与N型SiC欧姆接触层(5)相同,所述沟槽内设置有肖特基电极(8),肖特基电极(8)与台阶侧面和沟槽底部相接触,所述P型欧姆接触电极(7)包括依次沉积的Ni层和Pt层,所述N型欧姆接触电极(6)包括依次沉积的Ni层和Pt层,所述肖特基电极(8)包括依次沉积的Ni层、Cr层和Au层,或者Ti层、Cr层和Au层,或者Pt层、Cr层和Au层。
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