[发明专利]一种缺陷区域检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201610439499.5 申请日: 2016-06-20
公开(公告)号: CN106097361B 公开(公告)日: 2020-06-19
发明(设计)人: 白帆 申请(专利权)人: 昆山国显光电有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 许志勇
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请公开了一种缺陷区域检测方法,用以解决现有技术中通过人工尝试的方式来确定目标差值阈值导致目标差值阈值的确定效率较低的问题。该方法包括:接收用户输入的各个第一像素点在灰阶图像中的坐标参数,所述第一像素点为被检测区域中实际缺陷区域对应于灰阶图像上的像素点;根据用户输入的各个第一像素点在灰阶图像中的坐标参数,确定各个第一像素点的灰度值和各个第二像素点的灰度值,所述第二像素点为参考图像单元中与所述第一像素点相对位置相同的像素点;分别计算第一像素点的灰度值和与所述第一像素点的相对位置相同的第二像素点的灰度值的差值;将满足目标差值阈值条件的所述差值作为目标差值阈值。本申请还公开了一种缺陷区域检测装置。
搜索关键词: 一种 缺陷 区域 检测 方法 装置
【主权项】:
一种缺陷区域检测方法,其特征在于,包括步骤:接收用户输入的各个第一像素点在灰阶图像中的坐标参数,所述第一像素点为被检测区域中实际缺陷区域对应于灰阶图像上的像素点;根据用户输入的各个第一像素点在灰阶图像中的坐标参数,确定各个第一像素点的灰度值和各个第二像素点的灰度值,所述第二像素点为参考图像单元中与所述第一像素点的相对位置相同的像素点;分别计算第一像素点的灰度值和与所述第一像素点的相对位置相同的第二像素点的灰度值的差值;在得到每一个所述第一像素点对应的差值后,将满足预设的目标差值阈值条件的所述差值作为目标差值阈值,所述目标差值阈值用于检测被检测区域的实际缺陷区域。
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