[发明专利]光场成像设备轴向分辨率测定装置与方法有效
申请号: | 201610416223.5 | 申请日: | 2016-06-14 |
公开(公告)号: | CN106097343B | 公开(公告)日: | 2018-11-16 |
发明(设计)人: | 肖照林;王庆;周果清;李秀秀 | 申请(专利权)人: | 西安理工大学 |
主分类号: | G06T7/30 | 分类号: | G06T7/30;H04N17/00 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 顾潮琪 |
地址: | 710048*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明提供了一种光场成像设备轴向分辨率测定装置与方法,在光场成像设备的光轴方向上,以相互遮挡率低于50%的方式放置两个以上的标记靶板,确保标记靶板在光场成像设备视野范围内,并采用光场成像设备获取标记靶板经过凸透镜组件放大后的虚像。本发明适合具有较大轴向成像范围的光场成像装置使用,对光场成像设备轴向分辨率的理论可测定范围从零至无穷远,具有体积小结构紧凑的优点,有利于对不同光场成像系统的性能进行分析和比对,且便于在其他特定的光场成像应用系统中进行集成。 | ||
搜索关键词: | 成像 设备 轴向 分辨率 测定 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光场成像设备轴向分辨率测定装置,包括凸透镜组件、标记靶板和光场成像设备,其特征在于:在光场成像设备的光轴方向上,以相互遮挡率低于50%的方式放置两个以上的标记靶板,确保标记靶板在光场成像设备视野范围内,并采用光场成像设备获取标记靶板经过凸透镜组件放大后的虚像。
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