[发明专利]层压铁芯的检查设备和层压铁芯的检查方法有效
| 申请号： | 201610394756.8 | 申请日： | 2016-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN106253594B | 公开（公告）日： | 2019-11-29 |
| 发明（设计）人： | 松林敏;小田仁;丰永益守 | 申请（专利权）人： | 株式会社三井高科技 |
| 主分类号： | H02K15/02 | 分类号： | H02K15/02 |
| 代理公司： | 11464 北京奉思知识产权代理有限公司 | 代理人： | 吴立;邹轶鲛<国际申请>=<国际公布>= |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供了一种用于检查层压铁芯的设备，其中，多个铁芯片被层压。该设备包括：插入夹具，在插入夹具与层压铁芯的检查侧表面之间具有间隙的同时，插入夹具能够沿着层压铁芯的检查侧表面在层压铁芯的层压方向上移动；以及检测传感器，其设置在插入夹具上，并且检测移动的插入夹具与突起的接触，所述突起产生在层压铁芯的检查侧表面上。 | ||
| 搜索关键词： | 层压 检查 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于检查层压铁芯的设备，其中，多个铁芯片被层压，所述设备包括：/n插入夹具，在所述插入夹具与所述层压铁芯的检查侧表面之间具有间隙的同时，所述插入夹具能够沿着所述层压铁芯的所述检查侧表面在所述层压铁芯的层压方向上移动；以及/n检测传感器，该检测传感器设置在所述插入夹具上，并且检测移动的所述插入夹具与突起的接触，所述突起产生在所述层压铁芯的所述检查侧表面上。/n
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