[发明专利]提高离子注入纯度的电弧腔及离子注入方法有效

专利信息
申请号: 201610364522.9 申请日: 2016-05-27
公开(公告)号: CN106057625B 公开(公告)日: 2018-05-01
发明(设计)人: 龟井诚司 申请(专利权)人: 上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32;H01J37/36
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31275 代理人: 吴世华,尹英
地址: 201210 上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种提高离子注入纯度的电弧腔及离子注入方法,包括用于产生原初电子的灯丝、阴极、阳极和供气管道,供气管道向电弧腔中通入反应气体,灯丝发出原初电子入射到阴极中;在加热条件下,阴极受到原初电子的轰击产生二次电子,二次电子在阳极和阴极的电场作用下轰击反应气体,使反应气体电离产生等离子体;阴极的材料具有至少一种施主能级;本发明通过具有施主能级的阴极发射出二次电子来产生等离子体,其所产生的等离子体具有较高的能量和密度,可以抑制所形成的等离子体中的金属离子和金属分子离子的形成,能够加快等离子体边缘的解离速率,避免等离子体边缘形成不需要的金属离子和金属分子离子,进一步提高注入等离子体的纯度。
搜索关键词: 提高 离子 注入 纯度 电弧 方法
【主权项】:
一种电弧腔,包括用于产生原初电子的灯丝、阴极、阳极和供气管道,供气管道向电弧腔中通入反应气体,灯丝发出原初电子入射到阴极中;在加热条件下,所述阴极受到原初电子的轰击产生二次电子,二次电子在阳极和阴极的电场作用下轰击反应气体,使反应气体电离产生等离子体;其特征在于,所述阴极的材料具有至少一种施主能级;所述阴极包括第一二次电子发射区域以及位于第一二次电子发射区域的顶部和底部的阴极边缘区域的第二二次电子发射区域;所述第二二次电子发射区域的材料的电阻率大于所述第一二次电子发射区域的材料的电阻率,使得所述第二二次电子发射区域发出的第二二次电子的电势能高于所述第一二次电子发射区发出的第一二次电子的电势能。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海集成电路研发中心有限公司,未经上海集成电路研发中心有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610364522.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top