[发明专利]一种可以识别探测波长的智能薄膜光探测器的构筑方法在审
申请号: | 201610356859.5 | 申请日: | 2016-05-26 |
公开(公告)号: | CN105932105A | 公开(公告)日: | 2016-09-07 |
发明(设计)人: | 王敏;贾飞翔;黄帆;许智豪;蔡曹元;吴从军;马杨 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 | 代理人: | 余成俊 |
地址: | 230009 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种可以识别探测波长的智能薄膜光探测器的构筑方法,包括以下步骤:(1)先在SiO2/Si基底上蒸镀CdS,然后在CdS薄膜上蒸镀ZnS;(2)在铜箔上生长出石墨烯,在生长有石墨烯的铜片表面旋涂PMMA,旋涂完之后烘烤,然后放入FeCl3溶液中刻蚀,在铜箔刻蚀完之后,将PMMA/石墨烯薄膜分别放置于稀盐酸和水中清洗其表面残留的FeCl3刻蚀液,再用镀有CdS/ZnS薄膜的SiO2/Si基片捞起PMMA/石墨烯薄膜,待其晾干,用低压真空退火的方法除去PMMA;(3)在SiO2/Si基底上获得石墨烯/ZnS/CdS异质结薄膜后,通过掩模板,利用电子束蒸度法沉积10 nm Cr/100 nm Au来制作器件的电极。本发明使用不同带隙半导体复合,可以通过响应时间这一特征参数来分辨紫外光和可见光。且工艺简单,成本低廉,具有较好的实用价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 可以 识别 探测 波长 智能 薄膜 探测器 构筑 方法 | ||
【主权项】:
一种可以识别探测波长的智能薄膜光探测器的构筑方法,其特征在于,包括以下步骤:(1) ZnS/CdS薄膜的制备:先在SiO2/Si基底上利用电子束蒸发法蒸镀20‑40 nm厚度的CdS,然后在CdS薄膜上蒸镀30‑120 nm厚度的ZnS;(2) 石墨烯生长和转移:通过CVD方法在铜箔上生长出石墨烯,在生长有石墨烯的铜片表面旋涂浓度为80‑110 mg/ml的PMMA,旋涂完之后放置在加热台用160‑180℃烘烤4‑6min,然后放入浓度为1.0‑2.0 mol/L的FeCl3溶液中刻蚀,在铜箔刻蚀完之后,将PMMA/石墨烯薄膜分别放置于稀盐酸和水中清洗其表面残留的FeCl3刻蚀液,再用镀有CdS/ZnS薄膜的SiO2/Si基片捞起PMMA/石墨烯薄膜,待其晾干,用低压真空退火的方法除去PMMA;(3)光探测器的构筑:在SiO2/Si基底上获得石墨烯/ZnS/CdS异质结薄膜后,通过掩模板,利用电子束蒸度法沉积10 nm Cr/100 nm Au来制作器件的电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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