[发明专利]一种托卡马克等离子体破裂模拟装置及模拟方法有效

专利信息
申请号: 201610348113.X 申请日: 2016-05-24
公开(公告)号: CN106053979B 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 张明;许文笛;张君;黎小龙 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 廖盈春
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种托卡马克等离子体破裂模拟装置及模拟方法,包括供电电容、放电开关、续流二极管、欧姆线圈、铁芯、等离子体线圈、破裂模拟开关、破裂模拟电阻以及触发控制单元;供电电容用于对欧姆线圈供电,在等离子体线圈中感应产生电流,当放电开关导通时供电电容对后续电路放电;当放电开关关断时所述供电电容不放电,供电电容的电压保持不变;续流二极管用于在放电开关断开后与欧姆线圈构成回路,并对欧姆线圈的电流进行续流。欧姆线圈用于模拟托卡马克装置的欧姆场线圈,通过供电电容对其供电,在副方等离子体线圈中感应产生并控制维持等离子体线圈电流;等离子体线圈用于模拟托卡马克装置的等离子体电流环,该线圈中的电流用以模拟等离子体电流。
搜索关键词: 一种 马克 等离子体 破裂 模拟 装置 方法
【主权项】:
1.一种托卡马克等离子体破裂模拟装置,其特征在于,包括供电电容(5)、放电开关(6)、续流二极管(7)、欧姆线圈(8)、铁芯(9)、等离子体线圈(10)、破裂模拟开关(11)、破裂模拟电阻(12)以及触发控制单元;所述供电电容(5)的正极与放电开关(6)一端相连,放电开关(6)的另一端与欧姆线圈(8)的电流输入端相连,欧姆线圈(8)的电流输出端与供电电容(5)负极相连;所述放电开关(6)的控制端与所述触发控制单元的第一输出端连接,且所述放电开关(6)的控制端用于控制所述放电开关(6)的一端与另一端之间的导通或断开;所述续流二极管(7)的阴极与所述欧姆线圈(8)的电流输入端连接,所述续流二极管(7)的阳极与所述欧姆线圈(8)的电流输出端连接;所述等离子体线圈(10)为一有断口的导体环,所述破裂模拟开关(11)的电流输入端和电流输出端分别接在所述等离子体线圈(10)断口的两端;所述破裂模拟电阻(12)与所述破裂模拟开关(11)并联连接;所述破裂模拟开关(11)的控制端与所述触发控制单元的第二输出端连接,且所述破裂模拟开关(11)的控制端用于控制所述破裂模拟开关(11)的电流输入端与电流输出端之间的导通或断开;所述铁芯(9)为“日”字型结构,中心柱为圆截面;所述欧姆线圈(8)为多匝结构,紧密绕制在铁芯中心柱上,且关于铁芯中平面呈上下对称分布;所述等离子体线圈(10)为一匝,以铁芯中心柱为轴安装于铁芯中平面位置处;所述破裂模拟开关(11)在等离子体线圈电流上升及平顶阶段导通,与等离子体线圈构成低回路电阻回路,绝大部分电流流经破裂模拟开关;在模拟破裂瞬间关断,将破裂模拟电阻快速接入,形成高回路电阻回路,模拟破裂过程;所述破裂模拟电阻(12)破裂模拟电阻用以在模拟破裂瞬间接入等离子体线圈回路,瞬时增大等离子体线圈回路电阻,使线圈电流快速下降,模拟破裂过程。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610348113.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top