[发明专利]VCM一体化性能测试方法及系统有效
| 申请号： | 201610348070.5 | 申请日： | 2016-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN105785707B | 公开（公告）日： | 2018-11-02 |
| 发明（设计）人： | 丁杰;许克亮;张银凤 | 申请（专利权）人： | 昆山丘钛微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G03B43/00 | 分类号： | G03B43/00 |
| 代理公司： | 昆山四方专利事务所 32212 | 代理人： | 盛建德;李娜 |
| 地址： | 215300 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种VCM一体化性能测试方法，包括如下步骤：S1：通过MCU的AD信号采集，计算出VCM阻值，从而得出需要输入的电压V；S2：电源电路在VCM两端施加上述电压V，使得VCM中有对应的初始电流I通过，与VCM测试模块连接的镭射测距仪，其输出的距离数字通过VCM测试模块回传给MCU，MCU计算得出VCM震荡周期T，并将VCM震荡周期T上传服务器；S3：MCU询问是否测试震荡抑制，若是，进入如下步骤：S4：打开MCU的定时器，于第一个震荡周期T内的某一时间点t，调节电压，将对VCM的输入电流i减少到某一个小于初始电流I的电流值，使VCM产生一个向下的力来抵消VCM向上的震荡力，并在此基础上逐渐加大输入电流i，最终恢复初始电流I，实现VCM震荡抑制。 | ||
| 搜索关键词： | vcm 一体化 性能 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种VCM一体化性能测试方法，其特征是：包括如下步骤：S1：通过主控单元的模拟‑数字信号采集，计算出VCM阻值，从而得出需要输入的电压V，并依次询问是否进行VCM震荡测试、是否启动电流测试、是否进行VCM行程测试以及是否进行VCM寿命测试；若询问的结果是进行VCM震荡测试，则进入步骤S2；S2：电源电路在VCM两端施加上述电压V，使得VCM中有对应的初始电流I通过，与VCM测试模块连接的镭射测距仪，其输出的距离数字通过VCM测试模块回传给主控单元，主控单元计算得出VCM震荡周期T，并将VCM震荡周期T上传服务器；S3：主控单元询问是否测试震荡抑制，若是，进入如下步骤：S4：打开主控单元的定时器，于第一个震荡周期T内的某一时间点t，调节电压，将对VCM的输入电流i减少到某一个小于初始电流I的电流值，使VCM产生一个向下的力来抵消VCM向上的震荡力，并在此基础上逐渐加大输入电流i，最终恢复初始电流I，实现VCM震荡抑制。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆山丘钛微电子科技有限公司，未经昆山丘钛微电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610348070.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：掩膜板光罩、掩膜板光罩制作方法及掩膜板制作方法
- 下一篇：便携可收折屏幕架
