[发明专利]一种表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法在审
| 申请号： | 201610332962.6 | 申请日： | 2016-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN106053505A | 公开（公告）日： | 2016-10-26 |
| 发明（设计）人： | 曹小勇;华毅超;毛敏明;黄杏娇 | 申请（专利权）人： | 深圳市宁深检验检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N1/30;G01G19/00 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人： | 罗志伟 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市罗湖区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及化学检测领域，尤其涉及一种表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法；本发明通过对表面镀膜金片进行脱膜前处理，再利用X射线荧光光谱法进行金含量检测；其中脱膜前处理溶胶步骤只针对膜上的胶体反应，对金层无反应，不仅能够快速便捷的将膜与金层分离，且能较大程度的保持金层的完整；脱膜的金片可以便捷进行X射线荧光光谱检测，解决了覆膜带来的测试结果失真问题，而且能准确的测出金质量，均很好的满足了快速、准确、无损耗的检测要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 表面 覆膜金片金 含量 金质 快速 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法，其特征在于，包括以下步骤：A.溶胶步骤，所述溶胶步骤系将覆膜金片完全浸于溶胶剂中并密封，所述覆膜金片包括金片层和包裹在所述金片层之外的覆膜层，所述覆膜层与所述金片层之间通过高分子胶层相连；所述溶胶剂系所述高分子胶层的良溶剂；B.脱模步骤，所述脱模步骤系将所述覆膜金片的所述覆膜层与所述金片层分离；C.检测步骤，所述检测步骤系将经过所述脱模步骤的所述金片层放入X荧光光谱仪中检测其含金量，将经过所述脱模步骤的所述金片层放入电子天平检测质量。
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