[发明专利]一种半导体器件及其制造方法和电子装置有效

专利信息
申请号: 201610331037.1 申请日: 2016-05-18
公开(公告)号: CN107403753B 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 王明军;汪新学;邢超 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H01L21/762 分类号: H01L21/762;H01L27/04
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 董巍;高伟
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种半导体器件及其制造方法和电子装置,涉及半导体技术领域。该方法包括:提供半导体衬底,在半导体衬底中形成有多个光电二极管,在半导体衬底的正面形成有介电层和图案化的硬掩膜层;依次刻蚀介电层和部分半导体衬底,以在光电二极管之间形成多个通孔开口;在通孔开口中填充金属层以形成多个通孔;对半导体衬底的背面进行减薄处理停止于通孔中;从半导体衬底的背面开始刻蚀半导体衬底,停止于介电层上,以形成多个位于光电二极管和通孔之间的隔离沟槽,其中每个隔离沟槽的俯视形状为环形,每一隔离沟槽包围一光电二极管。本发明的制造方法减少了氧化硅的使用量,降低了制造工艺的成本,提高了器件的可靠性和性能。
搜索关键词: 一种 半导体器件 及其 制造 方法 电子 装置
【主权项】:
一种半导体器件的制造方法,其特征在于,所述方法包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底中形成有多个光电二极管,在所述半导体衬底的正面形成有介电层,以及在所述介电层上形成有图案化的硬掩膜层;以所述图案化的硬掩膜层为掩膜,依次刻蚀所述介电层和部分所述半导体衬底,以在所述光电二极管之间形成多个通孔开口;在所述通孔开口中填充金属层,以形成多个通孔;对所述半导体衬底的背面进行减薄处理,停止于所述通孔中;从所述半导体衬底的背面开始刻蚀所述半导体衬底,停止于所述介电层上,以形成多个位于所述光电二极管和所述通孔之间的隔离沟槽,其中,每个所述隔离沟槽的俯视形状为环形,每一所述隔离沟槽包围一所述光电二极管,使相邻的光电二极管相隔离。
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