[发明专利]一种半导体器件及其制造方法和电子装置有效
申请号: | 201610331037.1 | 申请日: | 2016-05-18 |
公开(公告)号: | CN107403753B | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
发明(设计)人: | 王明军;汪新学;邢超 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762;H01L27/04 |
代理公司: | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人: | 董巍;高伟 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种半导体器件及其制造方法和电子装置,涉及半导体技术领域。该方法包括:提供半导体衬底,在半导体衬底中形成有多个光电二极管,在半导体衬底的正面形成有介电层和图案化的硬掩膜层;依次刻蚀介电层和部分半导体衬底,以在光电二极管之间形成多个通孔开口;在通孔开口中填充金属层以形成多个通孔;对半导体衬底的背面进行减薄处理停止于通孔中;从半导体衬底的背面开始刻蚀半导体衬底,停止于介电层上,以形成多个位于光电二极管和通孔之间的隔离沟槽,其中每个隔离沟槽的俯视形状为环形,每一隔离沟槽包围一光电二极管。本发明的制造方法减少了氧化硅的使用量,降低了制造工艺的成本,提高了器件的可靠性和性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体器件 及其 制造 方法 电子 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体器件的制造方法,其特征在于,所述方法包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底中形成有多个光电二极管,在所述半导体衬底的正面形成有介电层,以及在所述介电层上形成有图案化的硬掩膜层;以所述图案化的硬掩膜层为掩膜,依次刻蚀所述介电层和部分所述半导体衬底,以在所述光电二极管之间形成多个通孔开口;在所述通孔开口中填充金属层,以形成多个通孔;对所述半导体衬底的背面进行减薄处理,停止于所述通孔中;从所述半导体衬底的背面开始刻蚀所述半导体衬底,停止于所述介电层上,以形成多个位于所述光电二极管和所述通孔之间的隔离沟槽,其中,每个所述隔离沟槽的俯视形状为环形,每一所述隔离沟槽包围一所述光电二极管,使相邻的光电二极管相隔离。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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