[发明专利]一种测量非线性晶体吸收系数的方法有效
| 申请号： | 201610328935.1 | 申请日： | 2016-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN106018285B | 公开（公告）日： | 2018-10-16 |
| 发明（设计）人： | 王雅君;郑耀辉;彭堃墀 | 申请（专利权）人： | 山西大学 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17 |
| 代理公司： | 太原科卫专利事务所(普通合伙) 14100 | 代理人： | 朱源 |
| 地址： | 030006*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测量非线性晶体吸收系数的方法，包括以下步骤：让少许待测基频光注入光学谐振腔，选取合适透镜组，使注入光腰斑与谐振腔基模腰斑大小相等且完全重合，并记录此时的模式匹配效率；增加注入功率，调节非线性晶体温度至位相匹配，锁定谐振腔的腔长，并记录倍频光输出功率，等待几分钟后，解锁谐振腔，迅速记录模式匹配效率；依据模式匹配效率测量结果，计算谐振腔基模的腰斑大小；由腰斑大小计算热透镜焦距大小，从而反推晶体对基频光的吸收系数；改变注入光功率，重复以上步骤，测量不同注入功率下晶体的吸收系数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 非线性 晶体 吸收系数 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量非线性晶体吸收系数的方法，其特征在于，包括以下步骤：1）、向插入非线性晶体（93）的光学谐振腔（9）内注入基频光（1），通过调整透镜组（8）参数和腔前导光镜，使得注入基频光（1）腰斑与光学谐振腔（9）基模腰斑大小相等且完全重合，记录模式匹配效率；2）、提高注入基频光（1）功率，锁定光学谐振腔（9），调节非线性晶体（93）温度至相位匹配，并记录倍频光（2）输出功率，等待5~10分钟后，解锁光学谐振腔（9），迅速记录模式匹配效率；3）、依据步骤1）、2）测量的模式匹配效率，计算步骤2）所述注入基频光（1）功率下，光学谐振腔（9）基模的腰斑大小，计算热透镜焦距大小；4）、依据步骤3）得到的热透镜焦距大小，计算晶体的吸收系数；5）、改变注入基频光（1）的功率，重复步骤2）、3）和4），测量不同注入基频光(1)功率下非线性晶体（93）的吸收系数。
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