[发明专利]一种用于双能X射线CT的方法和系统有效
| 申请号： | 201610304724.4 | 申请日： | 2016-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN107356615B | 公开（公告）日： | 2020-01-21 |
| 发明（设计）人： | 李亮;陈志强;康克军;张丽;赵自然;邢宇翔;李荐民;李玉兰;赵眺 | 申请（专利权）人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046 |
| 代理公司： | 11021 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 公开了一种用于双能X射线CT的方法和系统。在该方法中，保留占主导地位的两种效应例如康普顿效应和电子对效应，而把其他的效应例如光电效应的影响剔除，从而提高材料分解的精度。该发明的独特优势在于能够有效的消除现有双能CT(无论keV低能或MeV高能)方法在材料分解过程中直接选择两种效应公式计算原子序数Z带来的误差，大大提高双能CT材料分解和识别的准确性，对于临床医疗、安检、工业无损检测等领域的应用都有十分重要的意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 射线 ct 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种高能双能X射线CT材料分解方法，包括步骤：/n对被检查物体进行双能X射线CT扫描，得到高能投影数据和低能投影数据；/n针对所述高能投影数据和低能投影数据进行双能基材料分解，得到基材料分解系数；/n将所述基材料分解系数作为初值，计算被检查物体的每个像素的等效原子序数和电子密度；/n根据每个像素的等效原子序数和电子密度，计算光电效应所对应的质量衰减系数；/n利用光电效应所对应的质量衰减系数对所述高能投影数据和低能投影数据进行修正，以消除所述高能投影数据和低能投影数据中与光电效应所对应的部分；以及/n利用修正后的高能和低能投影数据进行双能基材料分解，得到与康普顿效应和电子对效应对应的原子序数图像和电子密度图像。/n
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