[发明专利]一种测试治具在审
申请号: | 201610280831.8 | 申请日: | 2016-04-29 |
公开(公告)号: | CN105810608A | 公开(公告)日: | 2016-07-27 |
发明(设计)人: | 刘友富 | 申请(专利权)人: | 刘友富 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L21/67 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 621000 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开一种测试治具,包括固定架,固定架两侧通过导杆连接下压板,下压板下部设有多个下压柱,下压板中部设有合盖压杆,合盖压杆上部设有快速夹手,快速夹手上部设有压力手柄,下压板上设有高压连接线,高压连接线端部设有高压输入端,下压板下部为测试板,测试板上均匀设有若干测试针组,测试针组上均连接有高压连接线,高压连接线上连接有用于切断电源的安全警报装置,测试板上设有若干承载柱,承载柱内设有弹簧。相对现有技术,本发明结构简单,操作便捷,实用性强,能够有效的测试LED铜基板或金属基板等绝缘体的电压穿透性,通过设置安全警报装置能够大大提高设备安全性,使用安全放心,测试结果准确,测试性能可靠。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 | ||
【主权项】:
一种测试治具,包括固定架,其特征在于,固定架两侧通过导杆连接下压板,下压板下部设有多个下压柱,下压板中部设有合盖压杆,合盖压杆上部设有快速夹手,快速夹手上部设有压力手柄,下压板上设有高压连接线,高压连接线端部设有高压输入端,下压板下部为测试板,测试板上均匀设有若干测试针组,测试针组上均连接有高压连接线,高压连接线上连接有用于切断电源的安全警报装置。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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