[发明专利]密封侧壁的器件晶粒及其制造方法有效
申请号: | 201610268919.8 | 申请日: | 2016-04-27 |
公开(公告)号: | CN106098712B | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 钱胤;张明;戴幸志 | 申请(专利权)人: | 豪威科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 宋融冰 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种用于制造密封侧壁的器件晶粒的方法,可包括用密封剂填充深槽式器件晶圆的沟槽,得到密封的沟槽式器件晶圆。所述方法可更包括在器件晶圆中形成沟槽,得到所述深槽式器件晶圆。所述形成沟槽的步骤可包括形成至少部分地穿过所述器件晶圆的每层的沟槽。所述方法可更包括掩膜所述深槽式器件晶圆的每个器件。一种密封侧壁的器件晶粒,可包括器件基板层的至少一层,包括前述至少一层中每层的各自的表面的侧壁,覆盖所述侧壁的侧壁密封剂,和形成在所述器件基板层上的器件。侧壁密封剂可任选地不覆盖所述器件的上表面。所述器件的上表面可直接邻接其上方的环境介质。 | ||
搜索关键词: | 密封 侧壁 器件 晶粒 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种用于制造密封侧壁的器件晶粒的方法,包括:用密封剂填充深槽式器件晶圆的沟槽,以获得密封的沟槽式器件晶圆。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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