[发明专利]一种金刚线切割的多晶硅片的制绒方法有效
申请号: | 201610266711.2 | 申请日: | 2016-04-26 |
公开(公告)号: | CN105932078B | 公开(公告)日: | 2017-08-01 |
发明(设计)人: | 雷深皓;杜雪峰;华永云 | 申请(专利权)人: | 北京创世捷能机器人有限公司 |
主分类号: | H01L31/0236 | 分类号: | H01L31/0236;C30B33/10 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司11212 | 代理人: | 杨立,王丹 |
地址: | 100000 北京市丰台区贾家花园*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种金刚线切割的多晶硅片的制绒方法,包括取金刚线切割后的多晶硅片,通过研磨或喷砂对多晶硅片表面进行预处理,完全消除多晶硅片表面的切割纹,同时在多晶硅片表面制造出合适的损伤层;经处理后的多晶硅片经过水洗后放入酸性制绒液中,形成绒面;制绒后的多晶硅片依次经过水洗、碱洗、水洗、酸洗、水洗和干燥后即可完成制绒。本发明可以完全消除金刚线切割多晶硅片后多晶硅片表面的切割纹,通过控制研磨或喷砂参数可以灵活地控制多晶硅片表面损伤层形貌,使制绒后的多晶硅片绒面更均匀、反射率更低。 | ||
搜索关键词: | 一种 金刚 切割 多晶 硅片 方法 | ||
【主权项】:
一种金刚线切割的多晶硅片的制绒方法,其特征在于,包括:1)取金刚线切割后的多晶硅片,通过研磨或湿法喷砂对多晶硅片表面进行预处理,以消除多晶硅片表面的切割纹,处理后多晶硅片表面的粗糙度为0.5‑1.5um,损伤层深度为0.5‑3um,用去离子水清洗多晶硅片表面;其中,所述研磨采用的研磨液由磨料和分散剂按质量比1:1组成,磨料为280‑3000目的碳化硅,分散剂为北京合德丰材料科技有限公司生产并市售的型号为HMC‑430DC的分散剂,磨头压力为0.1‑1MPa,对多晶硅片表面研磨10‑300s;所述湿法喷砂指利用压缩空气携带喷砂液经喷枪射向多晶硅片表面1‑120s,喷枪嘴内径为2‑20mm,喷枪压力为1‑10kg,其中,所述喷砂液由280‑3000目的碳化硅磨料、去离子水和分散剂组成,280‑3000目的碳化硅磨料与去离子水的质量比为1:1‑1:100,所述分散剂为北京合德丰材料科技有限公司生产的型号为HMC‑430DC的分散剂,分散剂的用量为喷砂液总质量的0.2%‑10%;2)将1)处理后的多晶硅片完全浸入酸性制绒液中0.5‑5min,制绒液温度为0‑30℃,使多晶硅片表面形成绒面,用去离子水清洗多晶硅片表面,以去除多晶硅片表面的酸性制绒液;3)将2)处理后的多晶硅片完全浸入碱洗液中0.1‑10min,以去除多晶硅片表面的多孔硅及残留的酸性制绒液,用去离子水清洗多晶硅片表面,以去除多晶硅片表面的碱洗液;4)将3)处理后的多晶硅片完全浸入酸洗液中0.1‑10min,以去除多晶硅片表面的金属离子及残留碱洗液,用去离子水清洗多晶硅片表面,以去除多晶硅片表面的酸洗液;5)将4)处理后的多晶硅片吹干或甩干。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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