[发明专利]一种基于二维拉曼光谱的颗粒粒度测量方法

摘要

本发明涉及一种基于二维拉曼光谱的颗粒粒度测量方法，包括：对于某种颗粒物质，选取已知颗粒粒度的各组颗粒物质，每组颗粒物质为相同颗粒粒度的颗粒物质，采集已知颗粒的各组颗粒物质的二维拉曼光谱；截取每组颗粒物质的特征拉曼谱峰；利用二维数据拟合方法获取特征拉曼谱峰的数学表达式；提取特征拉曼谱峰的半峰宽度W；拟合出颗粒物质的颗粒粒度P与半峰宽度W之间的关系式；对于待测量颗粒粒度的此种颗粒物质，采集其二维拉曼光谱，按照上述二维数据拟合分析的步骤，得到其半峰宽度W，然后，根据颗粒物质的颗粒粒度P与半峰宽度W之间的关系式，实现颗粒粒度P的测量。本发明可以简单、快速、无损地测量出物质的颗粒粒度。

主权项

1.一种基于二维拉曼光谱的颗粒粒度测量方法，包括下面的步骤：1)对于某种颗粒物质，选取已知颗粒粒度的各组颗粒物质，每组颗粒物质为相同颗粒粒度的颗粒物质，采集已知颗粒的各组颗粒物质的二维拉曼光谱，包含波长维度和一维空间维度的光强信息；2)截取每组颗粒物质的特征拉曼谱峰；3)利用二维数据拟合方法获取特征拉曼谱峰的数学表达式：对特征拉曼谱峰进行二维高斯拟合分析，利用具有不同半峰宽度的二维高斯函数进行叠加拟合，获取特征拉曼谱峰的二维高斯函数表达式；4)提取特征拉曼谱峰的半峰宽度W，根据特征拉曼谱峰的二维高斯函数表达式，获取特征拉曼谱峰沿空间维度的半峰宽度W的大小，半峰宽度W表征颗粒物质的特征拉曼散射光在阵列式探测器表面沿空间维度的弥散程度；5)根据特征拉曼散射光的弥散程度与颗粒粒度呈线性关系，拟合出颗粒物质的颗粒粒度P与半峰宽度W之间的关系式；6)对于待测量颗粒粒度的此种颗粒物质，采集其二维拉曼光谱，按照上述二维数据拟合分析的步骤，得到其半峰宽度W，然后，根据颗粒物质的颗粒粒度P与半峰宽度W之间的关系式，实现颗粒粒度P的测量。