[发明专利]一种测试存储器的方法和装置有效
| 申请号： | 201610252553.5 | 申请日： | 2016-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN107305792B | 公开（公告）日： | 2021-03-12 |
| 发明（设计）人： | 胡洪 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 苏培华 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种测试存储器的方法和装置，存储器包括自测试控制器，方法包括：将存储器与第一测试设备连接，通过第一测试设备发送启动自测试指令至存储器；通过自测试控制器确定存储器的各待测试功能，并根据各待测试功能对存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；将存储器与第二测试设备连接，通过第二测试设备对存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断存储器失效。本发明实施例不仅简化了老化测试流程，提高了老化测试的便利性和批量生产存储器时的产出效率，还大幅降低了老化测试对测试设备的要求，进而降低了产品老化测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 存储器 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种测试存储器的方法，其特征在于，所述存储器包括自测试控制器，所述测试存储器的方法包括以下步骤：将所述存储器与第一测试设备连接，通过所述第一测试设备发送启动自测试指令至所述存储器；通过所述自测试控制器确定所述存储器的各待测试功能，并根据所述各待测试功能对所述存储器进行循环测试，直至循环次数等于预设最大测试次数；将所述存储器与第二测试设备连接，通过所述第二测试设备对所述存储器进行全功能测试，并当任一功能测试失败时，判断所述存储器失效。
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