[发明专利]一种基于交叉验证的电子系统测试性定量分析方法在审
| 申请号： | 201610237062.3 | 申请日： | 2016-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN105956602A | 公开（公告）日： | 2016-09-21 |
| 发明（设计）人： | 唐小峰;许爱强;刘勇;文天柱 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军海军航空工程学院 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 264001 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于交叉验证的电子系统测试性定量分析方法，用于定量评估电子系统的可测试水平。此方法包括故障特征提取、交叉验证和测试性指标估计三个步骤。故障特征提取收集系统系统在各种故障状态下的原始故障数据，并从中提取有用的特征来描述不同的故障状态；交叉验证依次从故障特征数据中取出一个测试样本，应用KKC分类算法基于剩余样本对其进行类型判定，记录并输出错误分类信息；测试性指标估计通过一种统计方法在错误分类信息基础上估计被测系统在当前故障特征数据下的测试性指标，包括故障检测率、故障隔离率和虚警率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 交叉 验证 电子 系统 测试 定量分析 方法 | ||
【主权项】：
一种基于交叉验证的电子系统测试性定量分析方法，其特征在于：通过该方法，可基于已有的故障数据对被测系统的测试性指标进行精确估计，具体包括以下三个步骤：a)故障特征提取(1)，收集被测系统在各种故障状态下的原始故障数据(101)，再应用特征提取算法(102)从中获取用于描述并区分不同故障状态的故障特征数据(103)；b)交叉验证(2)，依次从故障特征数据(103)中取出一个测试样本(201)，应用KKC分类算法(202)基于剩余样本对其进行类型判定，记录并输出错误分类信息(203)；c)测试性指标估计(3)，通过一种统计方法(301)在错误分类信息(203)基础上估计被测系统在当前故障特征数据(103)下的测试性指标(302)。
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