[发明专利]0.3到2微米范围内长余辉发光强度的测试装置及方法有效
| 申请号： | 201610203140.8 | 申请日： | 2016-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN105891163B | 公开（公告）日： | 2018-10-09 |
| 发明（设计）人： | 邱建荣;李杨;许琦;聂建敏 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63;G01J1/16 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 陈文姬 |
| 地址： | 510640 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种0.3到2微米范围内长余辉发光强度的测试装置，包括积分球、第一透镜、光栅、滤波片、聚焦透镜、功率计探头、光功率计；长余辉材料测试样品置于积分球内；所述功率计探头在0.3到2微米范围内的吸收率相同；激发光从积分球的入射口入射，焦点位于长余辉材料测试样品上；关闭激发光电源后，长余辉材料测试样品产生的发射光依次经第一透镜变为平行光，再经光栅选光、滤波片滤波、聚焦透镜聚焦后由功率计探头接收，测试结果在光功率计上显示。本发明还公开了基于上述测试装置的测试方法。本发明通过测量光功率的方式来读取相应数据，从而可以比较可见到红外区的长余辉发光强度。 | ||
| 搜索关键词： | 0.3 微米 范围内 余辉 发光强度 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.0.3到2微米范围内长余辉发光强度的测试装置，其特征在于，包括积分球、第一透镜、光栅、滤波片、聚焦透镜、功率计探头和光功率计；长余辉材料测试样品置于积分球内；所述功率计探头在0.3到2微米范围内的吸收率相同；激发光从积分球的入射口入射，焦点位于长余辉材料测试样品上；关闭激发光电源后，长余辉材料测试样品产生的发射光经第一透镜变为平行光，再经光栅选光、滤波片滤波、聚焦透镜聚焦后由功率计探头接收，测试结果在光功率计上显示。
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