[发明专利]基于逆高斯寿命分布的贮存寿命试验加速因子评估方法有效

专利信息
申请号: 201610177492.0 申请日: 2016-03-25
公开(公告)号: CN105868543B 公开(公告)日: 2018-08-21
发明(设计)人: 张生鹏;李宏民;张文伟 申请(专利权)人: 航天科工防御技术研究试验中心
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06
代理公司: 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 代理人: 李阳;李浩
地址: 100085*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于逆高斯寿命分布的贮存寿命试验加速因子评估方法,包括步骤建立基于竞争失效的逆高斯寿命分布的电子整机产品贮存寿命模型;分别计算基于逆高斯寿命分布的电子整机产品在实际使用条件下的平均贮存寿命与加速应力条件下的平均贮存寿命;根据所述实际使用条件下的平均贮存寿命与加速应力条件下的平均贮存寿命,计算得到电子整机产品的加速因子。因此,所述的基于逆高斯寿命分布的贮存寿命试验加速因子评估方法能够实现准确地对电子整机产品贮存寿命加速因子的评估。
搜索关键词: 基于 逆高斯 寿命 分布 贮存 试验 加速 因子 评估 方法
【主权项】:
1.一种基于逆高斯寿命分布的贮存寿命试验加速因子评估方法,其特征在于,包括步骤:建立基于竞争失效的逆高斯寿命分布的电子整机产品贮存寿命模型;根据寿命模型,分别计算基于逆高斯寿命分布的电子整机产品在实际使用条件下的平均贮存寿命与加速应力条件下的平均贮存寿命;根据所述实际使用条件下的平均贮存寿命与加速应力条件下的平均贮存寿命,计算得到电子整机产品的加速因子;其中建立基于竞争失效的逆高斯寿命分布的电子整机产品贮存寿命模型包括:基于竞争失效模型,建立电子整机产品的可靠度模型;根据电子整机产品的可靠度模型,采用逆高斯寿命分布进行贮存寿命建模;建立电子整机产品的可靠度模型的步骤包括:竞争性故障模型定义为:如果整机产品有n种失效因素,而每一种失效因素都独立的作用于所述整机产品,且都对应一定的失效时间,其中任何一种失效因素都会引起整机产品失效,在所有的失效因素中,最早产生的那种失效因素出现时,将导致整机产品失效,即整机产品失效时间为:T=min{T1,T2,...,Tn},其中,T为整机产品失效时间,Ti为任意失效因素的失效时间,n为大于等于1的任意自然数;假设Fi(t)是任意失效因素的失效时间的累计失效分布函数,则整机产品的累计失效分布函数为:其中,Fi(t)为不同或相同的分布,但上式要求这n个分布必须是独立的,当它们之间不独立时,即一种失效因素会引起另一种失效因素的情况下,则必须考虑各失效因素之间的相互影响,需要对上式进行修正:任一失效因素起作用时,其对应的可靠度为:其中,λi(t)是对应第i个失效因素的失效率,当n个因素同时起作用时,整机产品的可靠度模型将是:
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