[发明专利]一种利用光纤萨格纳克干涉仪测量磁场的方法有效
| 申请号： | 201610165587.0 | 申请日： | 2016-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN105866711B | 公开（公告）日： | 2018-06-19 |
| 发明（设计）人： | 何巍;祝连庆;骆飞;董明利;刘锋;娄小平;闫光 | 申请（专利权）人： | 北京信息科技大学 |
| 主分类号： | G01R33/032 | 分类号： | G01R33/032;G01D5/26 |
| 代理公司： | 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 | 代理人： | 顾珊;庞立岩 |
| 地址： | 100085 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种利用光纤萨格纳克干涉仪测量磁场的方法，所述方法包括如下步骤：a)搭建级联Sagnac干涉仪测量系统，所述系统包括宽带光源泵浦源、第一掺杂稀土元素光纤、第二掺杂稀土元素光纤、一支波分复用器、第一光耦合器、第二光耦合器、第一光纤Sagnac环、隔离器、第二光纤Sagnac环、光谱仪；b)将第一光纤Sagnac环和第二光纤Sagnac环与可控磁伸缩材料贴合，进行磁场标定；c)逐渐增加磁场的大小，光谱仪采集第二光纤Sagnac环输出的光谱，记录梳状谱移动的长度，拟合梳状谱波长偏移随磁场变化的关系曲线；d)利用所拟合的梳状谱波长偏移随磁场变化的关系曲线对待测磁场进行测量。 1 | ||
| 搜索关键词： | 光纤Sagnac环 磁场 梳状谱 光纤 掺杂稀土元素 干涉仪测量 光谱仪 波长偏移 磁场变化 关系曲线 光耦合器 拟合 波分复用器 磁伸缩材料 测量系统 宽带光源 逐渐增加 泵浦源 隔离器 标定 光谱 级联 可控 贴合 测量 采集 输出 记录 移动 | ||
【主权项】：
1.一种利用光纤萨格纳克干涉仪测量磁场的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：a)搭建级联Sagnac干涉仪测量系统，所述系统包括宽带光源泵浦源、第一掺杂稀土元素光纤、第二掺杂稀土元素光纤、一支波分复用器、第一光耦合器、第二光耦合器、第一光纤Sagnac环、隔离器、第二光纤Sagnac环、光谱仪；所述第一光纤Sagnac环包括保偏光纤、偏振控制器，所述第二光纤Sagnac环包括保偏光纤、偏振控制器；所述第一光纤Sagnac环与第一掺杂稀土元素光纤通过第一光耦合器连接，所述第二光纤Sagnac环与第二掺杂稀土元素光纤通过第二光耦合器连接；b)将第一光纤Sagnac环和第二光纤Sagnac环与可控磁伸缩材料贴合，进行磁场标定；c)逐渐增加磁场强度的大小，光谱仪采集第二光纤Sagnac环输出的光谱，记录梳状谱移动的长度，拟合梳状谱波长偏移随磁场变化的关系曲线；d)利用所拟合的梳状谱波长偏移随磁场强度变化的关系曲线对待测磁场进行测量。
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