[发明专利]激光快速成形TC4材料射线衰减系数与锻造TC4射线衰减系数差异比较测量工艺

摘要

本发明公开了一种激光快速成形TC4材料射线衰减系数与锻造TC4射线衰减系数差异比较测量工艺，采用数字射线照相(DR)方法测量TC4激光快速成形与锻造TC4射线衰减系数差异，用来指导激光快速成形件射线检测工艺和标准制订。本发明的优点是：规范锻造TC4和激光快速成形TC4射线穿透衰减系数的测量工艺，可以实现两者射线衰减系数的精确对比，为新型材料‑激光快速成形TC4射线检测标准制订和射线检测工艺制订奠定基础，并可以用于激光快速成形材料组织射线评价中。

主权项

一种激光快速成形TC4材料射线衰减系数与锻造TC4射线衰减系数差异比较测量工艺，采用数字射线照相(DR)方法测量TC4激光快速成形与锻造TC4射线衰减系数差异，用来指导激光快速成形件射线检测工艺和标准制订；其主要步骤如下：（1）试块制作，分别用锻造TC4和激光快速成形TC制作，试块的尺寸精度满足GIB1187A阶梯试块的加工精度要求；（2）射线源，采用高频射线源保持射线能量和强度稳定，选用GE TITAN E320射线机；（3）DR成像板，采样灰度等级不低于12位，选用PerkinElmer XRD 0822；（4）系统矫正，采用自编软件对PerkinElmer XRD 0822进行校正，保证相同射线能量和强度条件下，灰度相差不差过±20；（5）透照布置，透照布置通同常规射线检测，锻造TC4和激光快速成形TC材料两块试块平行并置于射线有效透照场中心，和平板探测器（成像板）之中心，平板探测器离射线源1000mm，垂直透照；（6）透照参数，选取五组数据，其中管电压 80kv 100kv 120kv 140kv 160kv ；管电流 3mA；积分时间 100ms；曝光时间 2s；（7）不同厚度灰度提取，采用自编16位图像分析软件，提取目标区域灰度；（8）数据处理，不同阶梯厚度灰度取5个数据，平均后比较差异。