[发明专利]一种CICC导体性能测试系统在审
| 申请号： | 201610127807.0 | 申请日： | 2016-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN105988053A | 公开（公告）日： | 2016-10-05 |
| 发明（设计）人： | 吴向阳;房震;谭运飞;陈文革;陈治友;匡光力;刘章洋;高洋;蒋冬辉;邹贵弘;黄鹏程 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 230031 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种CICC导体性能测试系统，包括测试杜瓦、超导磁体、控制系统以及外部数据采集系统；所述CICC导体样品位于测试杜瓦底部的样品骨架上，上方通过低温超导接头连接超导变压器绕组，超导变压器绕组通过高温超导电流引线连接有外部励磁电源实现对CICC导体样品提供不同电流；超导磁体位于测试杜瓦外部对CICC导体样品施加垂直于导体方向的不同强度的背景磁场，外部数据采集系统对不同电流、不同磁场强度条件下CICC导体样品进行性能数据采集，并输给控制系统分析，从而完成的CICC导体样品性能测试。本发明所述CICC导体性能测试系统，可以实现大电流、强磁场、长尺寸导体样品的快速、简单方便的测试优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 cicc 导体 性能 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种CICC导体性能测试系统，其特征在于：包括内部提供低温和真空环境的测试杜瓦、超导磁体、控制系统以及外部数据采集系统；所述CICC导体样品位于测试杜瓦底部的样品骨架上，其上方通过低温超导接头连接超导变压器绕组，超导变压器绕组通过高温超导电流引线连接有外部励磁电源实现对CICC导体样品提供不同电流；所述的超导磁体位于测试杜瓦外部对CICC导体样品施加垂直于导体方向的不同强度的背景磁场，外部数据采集系统对不同电流、不同磁场强度条件下CICC导体样品进行性能数据采集，并输给控制系统分析，从而完成的CICC导体样品性能测试。
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