[发明专利]基于动态输入向量的片上SET脉冲测试方法

摘要

本发明公开了基于动态输入向量的片上SET脉冲测试方法，目的是提供一种与电路实际工作环境更为接近的片上SET脉冲测试方法。技术方案是1.设计基于动态输入向量的片上SET脉冲测试电路；2.对基于动态输入向量的片上SET脉冲测试电路上电，在反相器链的输入端加载一个动态输入向量；3.将基于动态输入向量的片上SET脉冲测试电路置于粒子辐射环境中，测试SET脉冲，最终在外部主机端口得到动态输入向量下电路产生的SET脉冲。本发明相比于现有片上SET脉冲测试方法，测得的SET脉冲个数、每个SET脉冲的宽度以及SET脉冲的平均宽度等与电路在实际工作过程中受到单粒子轰击时所产生的SET脉冲更为接近，从而使得测试结果更具指导意义，降低集成电路软错误率分析的难度。

主权项

基于动态输入向量的片上SET脉冲测试方法，其特征在于包含以下步骤：第一步，设计基于动态输入向量的片上SET脉冲测试电路；基于动态输入向量的片上SET脉冲测试电路由两条完全一样的反相器链，记为第一反相器链、第二反相器链，异或门，SET脉冲宽度测试电路构成；第一反相器链、第二反相器链均与异或门相连，均由N级反相器组成，N为大于1的自然数，根据工艺尺寸和离子辐照试验环境来决定N的大小；第一反相器链、第二反相器链的输入端连在一起，作为动态向量的输入端口，从基于动态输入向量的片上SET脉冲测试电路外部接收一个动态的输入向量；第一反相器链、第二反相器链的输出分别接异或门的两个输入端口；异或门与第一反相器链、第二反相器链、SET脉冲宽度测试电路相连，从第一反相器链、第二反相器链接收第一反相器链、第二反相器链的输出脉冲，将第一反相器链、第二反相器链的输出脉冲进行异或运算后，通过输出端口将SET脉冲送给SET脉冲宽度测试电路的输入端口；SET脉冲宽度测试电路与异或门、外部主机相连；SET脉冲宽度测试电路的输入端口接异或门的输出端口，从异或门接收SET脉冲，测试出SET脉冲宽度后通过输出端口将SET脉冲宽度输出给外部主机；第二步，对基于动态输入向量的片上SET脉冲测试电路上电，在反相器链的输入端加载输入向量；第三步，将基于动态输入向量的片上SET脉冲测试电路置于粒子辐射环境中，利用所述基于动态输入向量的片上SET脉冲测试电路测试SET脉冲；经过SET脉冲宽度测试电路的测试，在外部主机端口得到动态输入向量条件下电路实际所产生的SET脉冲。