[发明专利]一种基于频率特性评估传感器测量不确定度的方法及系统有效
申请号: | 201610111567.5 | 申请日: | 2016-02-29 |
公开(公告)号: | CN105758437B | 公开(公告)日: | 2018-06-19 |
发明(设计)人: | 荆学东;黄韡霖;陈芷 | 申请(专利权)人: | 上海应用技术学院 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 胡晶 |
地址: | 200235 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: |
本发明公开了一种基于频率特性评估传感器测量不确定度的方法及系统,该方法包括:根据给定的传感器的频率特性曲线,拟合传感器的幅频特性函数A(ω)以及相频特性函数 |
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搜索关键词: | 传感器 不确定度 频率特性 评估 传感器测量 幅频特性 绝对误差 相频特性 测量不确定度 获得单元 计算机自动化 频率特性曲线 待测传感器 测量频率 函数获得 拟合 测量 | ||
【主权项】:
1.一种基于频率特性评估传感器测量不确定度的方法,其特征在于,包括以下步骤:S11:根据给定的传感器的频率特性曲线,拟合传感器的幅频特性函数A(ω)以及相频特性函数
S12:根据所述幅频特性函数A(ω)以及待测传感器信号A0,得到幅值的绝对误差σ′;S13:根据所述幅值的绝对误差σ′以及所述相频特性函数
分别评估所述传感器的测量不确定度;所述步骤S11具体包括:S111:在给定的传感器的频率特性曲线的整个频率区间选取n个频率点,且使所述n个频率点包含拐点,读取每个频率点对应的纵坐标值;S112:将所述n个频率点依次相连,得到n‑1条线段,得出每条线段的斜率;S113:根据斜率对所述n个频率点进行分段,将斜率相近的线段的两端点编入同一组;S114:利用数值方法,对每一组的所述频率点进行拟合,得到幅频特性函数A(ω)以及相频特性函数![]()
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