[发明专利]一种几何校正方法在审
| 申请号： | 201610108087.3 | 申请日： | 2016-02-29 |
| 公开（公告）号： | CN105769233A | 公开（公告）日： | 2016-07-20 |
| 发明（设计）人： | 王燕妮 | 申请（专利权）人： | 江苏美伦影像系统有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;A61B6/00 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 215000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种几何校正方法，其特征在于，包括以下步骤：1)以探测器一侧中心为原点建立一个空间坐标系(x,y,z)和一个在探测器成像层上的平面坐标系(u,v)；2)设计校正模体，记录校正模体参数；3)采集该校正模体在不同角度下的X射线投影图像，并提取投影图像中的两组投影点的数据信息，并根据拟合公式将两组投影点在uv坐标系下分别拟合成两个椭圆方程；4)利用提取到的投影点的数据信息计算几何参数；5)根据几何参数对投影图像进行几何校正。本发明具有的有益效果：该校正方法不依赖于校正模体的空间位置，有效避免了模体空间位置误差而产生成像质量，大大提高了后期重建图像的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 几何 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种几何校正方法，其特征在于，包括以下步骤：1)以探测器一侧中心为原点建立一个空间坐标系(x，y，z)和一个在探测器成像层上的平面坐标系(u，v)；2)设计校正模体，记录校正模体参数；3)采集该校正模体在不同角度下的X射线投影图像，并提取投影图像中的两组投影点的数据信息，并根据拟合公式将两组投影点在uv坐标系下分别拟合成两个椭圆方程；4)利用提取到的投影点的数据信息计算几何参数；5)根据几何参数对投影图像进行几何校正。
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