[发明专利]光学测量装置及测量方法在审

专利信息
申请号: 201610106413.7 申请日: 2016-02-26
公开(公告)号: CN107131955A 公开(公告)日: 2017-09-05
发明(设计)人: 潘鼎翔;杨顺全 申请(专利权)人: 富泰华工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01J3/51 分类号: G01J3/51
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司44334 代理人: 谢志为
地址: 518109 广东省深圳市宝安区观澜街道大三社*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种光学测量装置及测量方法,该装置包括分光单元,接收该待测光线并分解成对应的第一光线、对应的第二光线及对应的第三光线;滤波单元,过滤该第一光线、第二光线或第三光线而对应产生第一过滤光线、第二过滤光线及第三过滤光线;感光单元,接收该第一过滤光线、第二过滤光线及第三过滤光线而对应生成第一感测数据、第二感测数据及第三感测数据;光谱仪,接收该待测光线并生成该待测光线的第一颜色数据;及处理单元,计算出该待测光线的第二颜色数据,根据该第一颜色数据及及该第二颜色数据生成一校准矩阵,通过该校准矩阵对该第二颜色数据进行校准,并输出校准后的颜色数据。本发明对光源测量结果进行了校准,提高了测量的准确度。
搜索关键词: 光学 测量 装置 测量方法
【主权项】:
一种光学测量装置,用于测量一有源光源的颜色,该有源光源发射出与像素对应的待测光线,其特征在于,该光学测量装置包括:分光单元,用于接收该待测光线,并将所接收到的待测光线分解成对应的第一光线、对应的第二光线及对应的第三光线;滤波单元,用于过滤该第一光线、第二光线或第三光线而对应产生第一过滤光线、第二过滤光线及第三过滤光线;感光单元,用于感测该第一过滤光线、第二过滤光线及第三过滤光线而对应生成第一感测数据、第二感测数据及第三感测数据;光谱仪,用于接收该待测光线,并生成该待测光线的第一颜色数据;及处理单元,用于根据该感光单元生成的第一感测数据、第二感测数据及第三感测数据计算出该待测光线的第二颜色数据,根据该第一颜色数据及该第二颜色数据生成一校准矩阵,通过该生成的校准矩阵对该第二颜色数据进行校准,并输出校准后的颜色数据。
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