[发明专利]检测传感器误差有效
申请号: | 201610093438.8 | 申请日: | 2016-02-19 |
公开(公告)号: | CN105910528B | 公开(公告)日: | 2019-09-20 |
发明(设计)人: | G·P·考斯格拉芙;D·G·奥科菲 | 申请(专利权)人: | 亚德诺半导体集团 |
主分类号: | G01B7/00 | 分类号: | G01B7/00;G01B7/30 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 申发振 |
地址: | 百慕大群岛(*** | 国省代码: | 百慕大群岛;BM |
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摘要: | 本发明涉及检测传感器误差。本文公开具有附加传感通道的传感器误差检测。第一、第二、第三感测元件可以被布置在相对于彼此的角度。在一些实施例中,第一、第二和第三感测元件可以是磁传感元件,诸如各向异性磁电阻(AMR)传感元件。可以得到来自分别具有第一、第二和第三感测元件的第一、第二和第三感测通道的传感器数据。预期的第三感测通道数据可以被确定并与所获得的第三感测通道数据进行比较,以指示误差。 | ||
搜索关键词: | 检测 传感器 误差 | ||
【主权项】:
1.一种用于检测传感器误差的装置,该装置包括:包括第一磁性传感元件的第一感测通道;包括第二磁性传感元件的第二感测通道,在相对于第一磁性传感元件的第一角度定向所述第二磁性传感元件;包括第三磁性传感元件的第三感测通道,在相对于第一磁性传感元件的第二角度定向第三磁性传感元件,所述第二角度不同于所述第一角度;和处理器,经配置以:接收来自第一感测通道的第一传感器数据、来自所述第二感测通道的第二传感器数据、以及来自第三感测通道的第三传感器数据;从第一传感器数据和所述第二传感器数据计算预期的第三传感器数据;和至少部分地基于预期的第三传感器数据与所述第三传感器数据的比较,检测传感器误差。
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