[发明专利]一种测定稀土硅镁合金中铝、镁、钙、钒、钛、镍、铜、锰的方法

摘要

本发明公开了一种测定稀土硅镁合金中铝、镁、钙、钒、钛、镍、铜、锰的方法，属于冶金分析方法领域。目的是提供一种灵敏度高，测定速度快，操作简便而且相对于其他方法干扰小，同时有良好的选择性，能够为冶炼成分控制过程提供准确数据的测定稀土硅镁合金中铝、镁、钙、钒、钛、镍、铜、锰的方法，方法包括以下步骤：步骤一：样品制备；步骤二：样品溶解；步骤三：标准校正曲线溶液的配置；步骤四：绘制校准曲线；步骤五：测定各元素的含量。本方法精密度高、准确度高、快速、简便，可以在生产中用于测定稀土硅镁合金中铝、镁、钙、钒、钛、镍、铜、锰的含量。

主权项

一种测定稀土硅镁合金中铝、镁、钙、钒、钛、镍、铜、锰的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：步骤一：样品制备称取一定质量的待测稀土硅镁合金样品，置于烧杯中，依次加入氢氟酸、高氯酸、硝酸，制成试样样品；另外称取与试样样品中待测稀土硅镁合金样品相同质量的高纯铁，也置于烧杯中，依次加入与试样样品相同的氢氟酸、高氯酸、硝酸，制成空白样品；步骤二：样品溶解将步骤一制成的分别装有空白样品、试样样品的烧杯置于低温电热板，加热溶解，使高氯酸发烟至湿盐状，取下烧杯冷却至室温，然后在烧杯中加入盐酸、硝酸、高纯水将盐类溶解，将烧杯中的溶液移入玻璃容量瓶中，稀释至刻度，摇匀，制成试样样品溶液及空白样品溶液；步骤三：标准校正曲线溶液的配置；步骤四：绘制校准曲线将标准校正曲线溶液及空白样品溶液引入电感耦合等离子体发射光谱仪，测定待测离子的信号强度，以质量百分数为横坐标，离子的信号强度为纵坐标绘制Ca、Mn、Cu、V、Ni、Ti、Mg、Al校准曲线；步骤五：测定Ca、Mn、Cu、V、Ni、Ti、Mg、Al的含量将试样样品溶液及空白样品溶液引入电感耦合等离子体发射光谱仪，测定待测离子的信号强度，根据步骤四的标准溶液校准曲线，求出空白样品溶液及试样样品溶液中Ca、Mn、Cu、V、Ni、Ti、Mg、Al的质量百分数，待测稀土硅镁合金中Ca、Mn、Cu、V、Ni、Ti、Mg、Al的质量百分数按下式计算：W＝W_i‑W₀式中：W为待测稀土硅镁合金中元素的质量百分数；W₀为空白样品溶液中元素的质量百分数；W_i为试样样品溶液中元素的质量百分数。