[发明专利]墨滴体积的校准方法及其校准系统、打印设备有效
| 申请号： | 201610029198.5 | 申请日： | 2016-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN105459601B | 公开（公告）日： | 2017-08-01 |
| 发明（设计）人： | 赵德江;王浩 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | B41J2/045 | 分类号： | B41J2/045;B41J2/01 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人： | 汪源,陈源 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种墨滴体积的校准方法及其校准系统、打印设备，所述墨滴体积的校准方法根据墨滴的质量和密度计算墨滴的第一体积，根据所述第一体积校准光学测量方法的预设的测量参数，所述光学测量方法通过拟合处理墨滴图像的方式计算墨滴的体积，根据校准之后的测量参数获取墨滴的第二体积。本发明提供的技术方案通过称重测量方法与光学测量方法相互结合，根据称重测量方法的结果校准光学测量方法的测量参数，从而提高了墨滴体积的测量精度。另外，针对不同的墨滴，本实施例提供不同的光学拟合参数，从而能够达到精准测量墨滴体积的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 体积 校准 方法 及其 系统 打印 设备 | ||
【主权项】：
一种墨滴体积的校准方法，其特征在于，包括：根据墨滴的质量和密度计算墨滴的第一体积；根据所述第一体积校准光学测量方法的预设的测量参数，所述光学测量方法通过拟合处理墨滴图像的方式计算墨滴的体积，所述测量参数包括墨滴边缘处理数据和墨滴中心处理数据；根据校准之后的测量参数获取墨滴的第二体积。
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