[发明专利]接触测试装置有效
| 申请号： | 201580060261.5 | 申请日： | 2015-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN107003335B | 公开（公告）日： | 2020-05-22 |
| 发明（设计）人： | 金日 | 申请（专利权）人： | 金日 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京青松知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11384 | 代理人： | 郑青松 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明关于一种接触测试装置，其包含第一导引板、第二导引板、中介板及多个探针，其中第一导引板具有多个第一探针孔，第二导引板平行第一导引板设置，并具有多个第二探针孔；中介板设置于第一导引板及第二导引板之间，并具有多个中介孔；多个探针插入多个第一探针孔、多个第二探针孔及多个中介孔，中介板相对于第一导引板及第二导引板为可移动的。探针的至少一部分弯曲，且弯曲部分邻接中介孔的壁面。根据本发明的接触测试装置，即使探针上未形成绝缘包覆，亦可有效避免以微小节距配置的探针间的短路，且可便利地更换探针而无需拆解接触测试装置。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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