[发明专利]半导体制造装置以及半导体制造方法有效
申请号: | 201580047423.1 | 申请日: | 2015-07-08 |
公开(公告)号: | CN106796872B | 公开(公告)日: | 2019-07-16 |
发明(设计)人: | 藤仓序章 | 申请(专利权)人: | 住友化学株式会社 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;C23C16/448;C30B25/14;C30B29/38;H01L21/31 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 刘文海 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 半导体制造装置向设置于反应炉内的基板供给原料气体而进行对基板的成膜处理,其具备:收纳容器,其配置于反应炉内,且收容成为原料气体的来源的金属原料;辅助容器,其在反应炉内配置于收纳容器的上方侧,是具有金属原料的放入口的有底容器;连接管,其使形成于辅助容器的流出口与收纳容器内相连通;封堵栓,其以能够对流出口进行开闭的方式封堵该流出口;以及加热部,其将反应炉内加热至使辅助容器内的金属原料以及收纳容器内的金属原料熔融且对基板进行的成膜处理所需的规定温度。 | ||
搜索关键词: | 半导体 制造 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体制造装置,其向设置于反应炉内的基板供给原料气体而进行对所述基板的成膜处理,所述半导体制造装置的特征在于,具备:收纳容器,其配置于所述反应炉内,且收容成为所述原料气体的来源的金属原料;辅助容器,其在所述反应炉内配置于所述收纳容器的上方侧,是具有所述金属原料的放入口的有底容器;连接管,其使形成于所述辅助容器的所述金属原料的流出口与所述收纳容器内相连通;封堵栓,其以能够对所述流出口进行开闭的方式封堵该流出口;以及加热部,其将所述反应炉内加热至使所述辅助容器内的所述金属原料以及所述收纳容器内的所述金属原料熔融且对所述基板进行的成膜处理所需的规定温度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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