[发明专利]使用宇宙射线电子和μ子的散射和停止辨别低原子重量材料有效
| 申请号： | 201580020512.7 | 申请日： | 2015-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN106233160B | 公开（公告）日： | 2019-02-15 |
| 发明（设计）人： | G.布兰皮德;S.库马尔;D.多罗;C.摩根;M.J.索桑 | 申请（专利权）人： | 决策科学国际公司 |
| 主分类号： | G01T1/00 | 分类号： | G01T1/00;G01T1/16 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 王珊珊 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了用于构建在低‑原子‑质量材料的范围上的宇宙射线带电粒子(包括宇宙射线电子和/或宇宙射线μ子)的散射和停止关系、并且基于构建的散射和停止关系检测和识别暴露于宇宙射线带电粒子的感兴趣的体积(VOI)的内容物的技术、系统和设备。在一个方面，公开了用于构建暴露于宇宙射线带电粒子的一范围的低密度材料的散射‑停止关系的处理。该技术首先确定暴露于来自宇宙射线的带电粒子的在该低密度材料范围内的每种材料的散射参数和停止参数。该技术然后基于与该低密度材料范围相关联的确定的散射和停止参数对，建立该低密度材料范围的宇宙射线带电粒子的散射‑停止关系。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 宇宙射线 电子 散射 停止 辨别 原子 重量 材料 | ||
【主权项】：
1.一种用于识别暴露于宇宙射线带电粒子的一范围的低密度材料的散射‑停止关系的方法，所述方法包括：在带电粒子检测系统处将位于感兴趣的体积(VOI)内的所述范围的低‑密度材料暴露于包括宇宙射线μ子或宇宙射线电子的宇宙射线带电粒子；确定与进入VOI、与位于VOI内的所述范围的低密度材料相互作用并且离开VOI的暴露宇宙射线带电粒子的子集相关联的散射信号；以及确定与进入VOI、与位于VOI内的所述范围的低密度材料相互作用并且在VOI内部停止的暴露宇宙射线带电粒子的子集相关联的停止力；以及至少部分基于确定的散射信号和停止力，识别所述范围的低‑密度材料的散射‑停止关系。
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