[实用新型]一种继电器性能测试装置有效
| 申请号： | 201521134240.7 | 申请日： | 2015-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN205374685U | 公开（公告）日： | 2016-07-06 |
| 发明（设计）人： | 魏仕伟;李斌;王世峰;刘金成 | 申请（专利权）人： | 惠州金源精密自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 张海英;黄建祥 |
| 地址： | 516006 广东省惠州市仲*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种继电器性能测试装置，包括依次设置的耐压测试装置以及综合性能测试装置，所述耐压测试装置以及所述综合性能测试装置分别具有测试探针、以及用于定位压盖组装完成的继电器组件使其在特定位置完成性能测试的定位装置，继电器性能测试装置可以在测试过程中对继电器进行准确定位，保证测试时测试探针与继电器触点之间的准确接触，提高测试准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 继电器 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种继电器性能测试装置，其特征在于，包括依次设置的耐压测试装置以及综合性能测试装置，所述耐压测试装置以及所述综合性能测试装置分别具有测试探针、以及用于定位压盖组装完成的继电器组件使其在特定位置完成性能测试的定位装置。
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